當前位置:> 供求商機> CHY-01-膜厚度測量儀
膜厚度測量儀專業(yè)適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片,、隔膜,、紙張、箔片,、硅片等各種材料的厚度精確測量,。
膜厚度測量儀技術特征:
l 嚴格按照標準設計的接觸面積和測量壓力,同時支持各種非標定制;
l 測試過程中測量頭自動升降,,有效避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差;
l 測試軟件提供測試結果圖形統(tǒng)計分析,,準確直觀地將測試結果展示給用戶;
l 彩色大液晶顯示測試結果,,及每次測量值,、統(tǒng)計值;
l 配備微型打印機,,快速打印每次測量結果及統(tǒng)計大小值,、平均值;
l 支持數據實時顯示,、自動統(tǒng)計,、打印等許多實用功能;
l 配備標準RS232接口,方便系統(tǒng)與電腦的外部連接和數據傳輸,;
l 配備專用自動進樣器,,可一鍵實現全自動多點測量,人為誤差小(選配),;
技術參數:
規(guī)格名稱 技術參數
測量范圍 0-5mm(可根據需要定做合適夾具)
測量壓力 17.5±1kPa(薄膜),;100±1kPa(紙張)
測量精度 ±0.5um
分辨率 0.1um
接觸面積 50mm2(薄膜),200mm2(紙張) 注:紙張需定制
測量速度 10c/min (可調)
外形尺寸 454mmx352mmX500mm
電源 AC220V 50Hz
凈重 30kg
測試原理:
測厚儀采用接觸式測試原理,,截取一定尺寸試樣,,測厚儀測量頭自動降落于試樣之上,依靠固定的壓力和固定的接觸面積下測試出試樣的厚度值,。
該儀器符合多項國家和國際標準:GB/T 6672-2001 ,、GB/T 451.3-2002、GB/T 6547-1998,、ISO 4593-1993,、ISO 534-2011、ISO 3034-2011,、ASTM D374-1999,、ASTM D1777-1996(2007),、JIS K6250-1997、JIS K6783-1994,、JIS Z1702-1994,、BS 3983-1989 、BS 4817 ,、TAPPI T411
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