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產(chǎn)品簡介
SE-VE光譜橢偏儀產(chǎn)品簡介：SE-VE是一款,、快速測量光譜橢偏儀,，緊湊集成設(shè)計，使用簡便,，可一鍵快速測量表征各式光學(xué)薄膜膜厚以及光學(xué)常數(shù)等信息
詳細介紹
SE-VE 光譜橢偏儀
產(chǎn)品簡介： SE-VE 是一款,、快速測量光譜橢偏儀，緊湊集成設(shè)計,，使用簡便,，可一鍵快速測量 表征各式光學(xué)薄膜膜厚以及光學(xué)常數(shù)等信息。高性價比光學(xué)橢偏測量解決方案,，緊湊集成化設(shè)計,，用 戶操作體驗，一鍵快速測量分析,，人機交互設(shè)計，使用便捷,，豐富的數(shù)據(jù)庫和幾何結(jié)構(gòu)模型庫,，保證強大 數(shù)據(jù)分析能力，廣泛應(yīng)用于科研/企業(yè)中各種單層到多層薄膜膜厚以及光學(xué)常數(shù)等快速表征分析,。
產(chǎn)品型號 | SE-VE 光譜橢偏儀 |
主要特點 | 1,、采用高性能進口復(fù)合光源,，光譜覆蓋可見到近紅外范圍 2、高精度旋轉(zhuǎn)補償器調(diào)制,、 PCRSA 配置,， 實現(xiàn)Psi/Delta光譜數(shù)據(jù)高速采集 |
3、數(shù)百種材料數(shù)據(jù)庫,、多種算法模型庫,，涵蓋了目前絕大部分的光電材料 | |
技術(shù)參數(shù) | 1、自動化程度：固定角 2,、應(yīng)用定位：經(jīng)濟型 3,、基本功能： Psi/Delta、N/C/S,、R 等光譜 |
4,、分析光譜： 400-800nm | |
5、單次測量時間： 0.5-5s | |
6,、重復(fù)性測量精度： 0.05nm 7,、光斑大小： 大光斑 1-3mm 8,、入射角調(diào)節(jié)方式：固定角 |
9,、入射角范圍： 65° | ||
10、找焦方式：手動找焦 11,、Mapping 行程：不支持 12,、支持樣件尺寸： 至 160mm | ||
可選配件 | 1 | 溫控臺 |
2 | 真空泵 | |
3 | 透射吸附組件 | |