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光源裝置/圖像計測裝置廠家REVOX(相模原市)開發(fā)出一款以微米(um)為單位的自動檢出裝置“Makros-Cf",。該裝置憑借共焦點顯微鏡裝置可自動檢出對象物的傷痕、劃痕等缺陷,。
在對有機EL Display等大型產(chǎn)品的表面高速捕捉,、讀取圖像后,可自動分析出來傷痕的大小,、深度等,。
該產(chǎn)品采用特殊的光學Sensor,通過光的變化識別傷痕,,通過共焦點鏡頭測定傷痕的大小,、形狀、深度,。即使復雜的劃痕,、傷痕也可**到微米(um)進行測量,、通過連接LAN電腦,,將傷痕圖像擴大顯示。
以往的檢查機僅會進行整體圖像檢查,,顯示傷痕的位置,。檢查工程的省力化,、時間縮短,。
采用特殊構(gòu)造,,可吸收測定臺在測定對象在移動時的產(chǎn)品震動,,在半導體等檢查,、不打亂無塵室內(nèi)的空氣流進行清潔,、維護有優(yōu)勢,。
已經(jīng)有銷售到半導體,、汽車,、馬達、醫(yī)療器械等領域,。
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