庫存現(xiàn)貨供應BM-7AC TOPCON拓普康 色度亮度計
庫存現(xiàn)貨供應BM-7AC TOPCON拓普康 色度亮度計
耐熱結(jié)構型本體
4種波長范圍的受光單元 兼容
集成值測量
UVR-T2 工業(yè)紫外線檢測儀非常適合用于電氣和電子元件的固化、密封和粘接,、印刷電路板印刷,、干燥和安裝線以及各行各業(yè)的滅菌過程的紫外線照射設備的燈強度控制。
基于該儀器的測量結(jié)果,，可用于控制輸送機速度,、燈強度分布、更換時間,，從而提高客戶的成品率,。
它還可用于半導體、FPD,、印刷電路板等光刻工藝中使用的光刻設備的燈管管理,。
* 每種類型的受光單元和顯示單元均單獨出售，因此請根據(jù)您的應用選擇受光單元并與顯示單元組合使用。
金屬機身的耐熱結(jié)構,，使測量更穩(wěn)定（帶隔熱罩）
配備多種測量功能：實時照度測量,、峰值測量,、集成光強測量,、偏差測量 提高易用性：配備自動模式，可根據(jù)光源
的照度設置最佳范圍 通過安裝2m擴展單元（可選）,， 可以通過將光電探測器設置在遠程位置來進行測量 內(nèi)置存儲器,、USB輸出、模擬輸出 標準設備 USB總線供電操作：可使用
USB供電系統(tǒng) 標配可用PC測量的測量程序
主要應用：各類UV照射設備UV燈管的維護和管理 • 曝光設備 紫外線消毒設備,、殺菌設備,、重整設備 紫外線固化設備、清洗設備 紫外線表面處理設備
規(guī)格 | 規(guī)格 |
UD-T25T2型 | UD-T36T2型 | UD-T40T2型 | UD-T3040T2 |
光電 探測器 | 硅光電二極管 |
受光窗口直徑 | φ5毫米 | φ3毫米 | φ3毫米 | φ3毫米 |
測量波長范圍 | 230 ~ 280納米 | 300 ~ 390納米 | 350 ~ 490納米 | 290 ~ 430納米 |
峰值靈敏度 波長 | 約255nm | 約355nm | 約410nm | – |
輻射 測量范圍 （毫瓦/厘米2) | 范圍1：0.01~30.0 范圍2：0.1~300.0 范圍3：
1.0~3000.0 | 范圍1：0.02~60.0 范圍2：0.2~600.0 范圍3：
2.0~6000.0 | 范圍1：0.01~30.0 范圍2：0.1~300.0 范圍3：
1.0~3000.0 | 范圍1：0.02~60.0 范圍2：0.2~600.0 范圍3：
2.0~6000.0 |
輻照度精度 保修范圍 （毫瓦/厘米2) | 范圍1：1.5~30.0 范圍2：15.0~300.0 范圍3：
150~3000.0 | 范圍1：3.0~60.0 范圍2：30.0~600.0 范圍3：
300~6000.0 | 范圍1：1.5~30.0 范圍2：15.0~300.0 范圍3：
150~3000.0 | 范圍1：3.0~60.0 范圍2：30.0~600.0 范圍3：
300~6000.0 |
累計照射量 測量范圍 （兆焦耳/厘米2) | 范圍1：0.01~999.99 范圍2：0.1~9999.9
范圍3：
1.0~99999.0 | 范圍1：0.01~999.99 范圍2：0.1~9999.9
范圍3：
1.0~99999.0 | 范圍1：0.01~999.99 范圍2：0.1~9999.9
范圍3：
1.0~99999.0 | 范圍1：0.01~999.99 范圍2：0.1~9999.9
范圍3：
1.0~99999.0 |
模擬輸出 1 mV 輻射 光 （兆焦耳/厘米）2) | 范圍 1：0.015 范圍 2：0.15
范圍 3：1.5 | 范圍 1：0.03
范圍 2：0.3 范圍 3：3.0 | 范圍 1：0.015 范圍 2：0.15
范圍 3：1.5 | 范圍 1：0.03
范圍 2：0.3 范圍 3：3.0 |
數(shù)據(jù) 采樣 | ■ 采樣時間 50Hz：10ms,，60Hz：8.33ms
■ 采樣率 50Hz：50次/秒 60Hz：60次/秒 |
傾斜入射光特性 | 30°：±5%以內(nèi),，60°：±25%以內(nèi) |
校準精度(*1) | ±2%以內(nèi) |
線性(*2) | ±3%以內(nèi) |
模擬 信號輸出 | 0~2Vmax. 所有量程通用 |
接口 | USB2.0（USB A 連接器轉(zhuǎn) USB micro B 連接器） |
權力 | AAA 電池×3（市售）/ USB 總線供電 |
使用條款 | 溫度 ： 10~60 °C / 濕度 ： 85% R.H. 以下（無凝露） |
外形尺寸 （寬×深×高） (*3) | 75×201×16毫米 |
質(zhì)量(*3) (*4) | 320克 |
（*1） 關于校準光源中校準參考裝置的值 （*2） 當在每個測量范圍內(nèi)入射到滿量程的 5% 或更高的光強度時，使用零點校正時 （*3） 無隔熱罩
