蔡司X射線顯微鏡 Xradia 515 Versa
憑借其突破性技術和高分辨率探測器，將 3D X 射線顯微鏡 ( XRM ) 的性能提升至新的高度,，為各種尺寸的樣品提供亞微米級成像解決方案,。保持先進的大樣品高分辨率技術優(yōu)勢的同時，該系統(tǒng)可實現(xiàn)高達500 nm空間分辨率,。該產(chǎn)品通過使用更高分辨率的光學元件,，實現(xiàn)分辨率的改善和突破,。與此同時，該產(chǎn)品還加入了更多的智能的元素,，并且具有更廣闊的拓展能力,。兼容ART3.0高級重構工具箱，利用AI技術提高成像效率或改善成像質量,。
此外,，Xradia 515 Versa系統(tǒng)還可進行擴展和升級，包括原位接口,、4D原位試驗平臺,、迭代重構、自動進樣裝置,、平板探測器等多個拓展模塊,。結合蔡司Xradia平臺的靈活性和穩(wěn)定性，該產(chǎn)品多功能,、多應用領域特點將為您的研究工作快速的提供分析成果,。
[產(chǎn)品特點]
三維無損成像
500 nm真實空間分辨率
大工作距離下高分辨率，可實現(xiàn)不同類型,、尺寸和類型 樣品多尺度成像
吸收,、相位襯度成像模式
智能防撞系統(tǒng)，讓您的設置更簡單,、更智能
4D 原位成像能力
可升級,、拓展和可靠性
[應用領域]
材料科學，如金屬,、陶瓷,、高分子、混凝土等三維無損分析
生命科學,，如微觀結構三維成像
地球科學,，如地質、油氣,、礦產(chǎn),、古生物等三維成像
電子和半導體行業(yè)，如形貌測量及失效分析
原位力學,、變溫試驗
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