涂層測厚儀采用磁測和渦流兩種測厚方法
閱讀:1865 發(fā)布時間:2022-3-18
涂層厚度的測量方法主要有:楔形切割法、光切割法,、電解法,、厚度差測量法、稱重法,、X射線熒光法,、β射線背散射法、電容法,、磁測量法和渦流測量法等,。這些方法中的前五種是破壞性測試。涂層測厚儀采用磁測和渦流兩種測厚方法,,可無損測量磁性金屬基材(如鋼,、鐵、合金,、硬磁鋼)上非磁性涂層(如鋅,、鋁、鉻,、銅,、橡膠、油漆等)的厚度,??蛇M行零點校準和兩點校準,探頭的系統(tǒng)誤差可通過基本校準方法進行校正,。
1,、精度高:測量范圍0-2000um,精度≤±(3%)讀數(shù)+2μm),,測量數(shù)據(jù)與進口涂層測厚儀一致,。
2、綜合測量:可以無損測量磁性基體上非磁性涂層的厚度和非磁性基體上非導(dǎo)電涂層的厚度,。
3,、操作簡單:0.5秒快速測量,無需校準,,只需調(diào)零,,只需按鍵,操作非常簡單,。
4,、體積小:主機與探頭一體化設(shè)計,,體積小,,便于手持攜帶,。
5、使用壽命長:探頭采用紅寶石探頭,,極耐磨耐腐蝕,,可確保儀器長期有效使用。
涂層測厚儀有兩種測量模式:連續(xù)測量模式和單次測量模式,。它有兩種工作模式:直接模式和組模式,。具有刪除功能:刪除測量中的單個可疑數(shù)據(jù),或刪除存儲區(qū)中的所有數(shù)據(jù)重新測量,。
涂層測厚儀測量原理:
1,、磁性測厚法:當探頭與金屬基體表面的涂層接觸時,由于非磁性涂層的存在,,探頭與磁性金屬基體形成閉合磁路,。涂層的厚度可以通過測量磁路磁阻的變化來計算。
2,、渦流測厚法:利用高頻交流電在線圈中產(chǎn)生的電磁場,,當探頭與鍍層接觸時,在金屬基體上產(chǎn)生渦流并對線圈產(chǎn)生反饋作用,。涂層的厚度可以通過測量反饋效應(yīng)的大小得出,。