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供應簡介

當高強度光照射到物體上時（*1） ,，會發(fā)生廷德爾現(xiàn)象,，因此可以輕松目視確認表面的劃痕和污垢以及內(nèi)部的異物和氣泡。
*1：半導體晶圓,、掩膜玻璃,、硬盤、液晶面板,、透鏡等,！
計測網(wǎng)UIH-3D型仕様INTECS鹵素燈目視檢查

詳細介紹

計測網(wǎng)UIH-3D型仕様INTECS鹵素燈目視檢查

品牌介紹：

點火監(jiān)視裝置（TAM系列）、超高亮度照明裝置（UIH-1,、UIH-2,、UIH-3）、半導體晶片截面形狀測量裝置（WEMS,、VSSW）等測量裝置制造現(xiàn)場,。

垃圾坑點火監(jiān)控裝置、超高亮度照明裝置

垃圾坑點火監(jiān)測裝置

這是為了防止焚燒廠的垃圾坑（bunkas）發(fā)生火災而開發(fā)的紅外線監(jiān)控裝置,。通過與自動水炮聯(lián)動,，可以實現(xiàn)高精度的自動瞄準水炮。

超亮燈光設備

這是一種非破壞性測量半導體晶片的截面形狀和尺寸的裝置,。您可以測量晶圓邊緣的尺寸,、角度和半徑。

霧度檢查用照明裝置

本頁包含霧度檢查照明設備的說明以及產(chǎn)品和維修查詢的聯(lián)系信息,。

晶片截面形狀測定裝置

這是一種非破壞性測量半導體晶片的截面形狀和尺寸的裝置,。可以測量晶圓邊緣尺寸,、角度和半徑,。

*1 為了保護燈泡，即使在主電源開關關閉的情況下

　　　 ,，仍可通過風扇保持冷卻直至燈室內(nèi)溫度降至約 40℃ 或更低的功能,。

UIH-1C 外形尺寸 (PDF)

UIH-1C 使用說明書說明書 (PDF)

UIH 系列使用說明書說明書 (PDF)

UIH 系列規(guī)格說明書 (PDF)

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