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無損檢測(cè)是在不破壞物體的情況下檢查物體表面或內(nèi)表面是否存在缺陷,、大小、形狀,、分布等的檢測(cè),。
無損檢測(cè)包括射線探傷、超聲波探傷,、磁粉探傷,、穿透深度探傷、渦流探傷等,。在JIS術(shù)語中,，無損檢測(cè)縮寫為NDT，代表無損檢測(cè),。
另一方面,，破壞性試驗(yàn)是對(duì)物體施加壓力、溫度,、振動(dòng)等直至其被破壞,，并直接考察缺陷出現(xiàn)的允許限度的試驗(yàn)方法。無損檢測(cè)是一種間接檢測(cè)方法,，與破壞性檢測(cè)相比,，其缺點(diǎn)是無法可靠地確定缺陷發(fā)生的條件，但由于它可以在不損害物體形狀或功能的情況下檢測(cè)缺陷,，因此被廣泛應(yīng)用,。 、工廠,、鐵路,、飛機(jī)等，也可以在運(yùn)行過程中進(jìn)行測(cè)試,，防止因缺陷引起的問題。
