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?原子力顯微鏡的用途及工作方式闡述
閱讀：624 發(fā)布時(shí)間：2024-9-11
原子力顯微鏡(AFM)是一種用來研究包括絕緣體在內(nèi)的固體材料表面結(jié)構(gòu)的分析儀器,。
原子力顯微鏡(AFM)通過檢測待測樣品表面和一個(gè)微型力敏感元件之間的*微弱的原子間相互作用力來研究物質(zhì)的表面結(jié)構(gòu)及性質(zhì),。它利用一對微弱力**敏感的微懸臂，一端固定,，另一端的微小針尖接近樣品,，通過傳感器檢測微懸臂的形變或運(yùn)動狀態(tài)變化，從而獲得作用力分布信息,。這種技術(shù)使得AFM能夠在納米*分辨率下獲得表面形貌結(jié)構(gòu)信息及表面粗糙度信息,，適用于在多種環(huán)境下(包括大氣及液體環(huán)境)對各種材料和樣品進(jìn)行觀察與探測。
AFM的主要用途包括：
直接觀測非導(dǎo)電樣品,，無需對樣品進(jìn)行復(fù)雜的處理,，廣泛應(yīng)用于材料學(xué)、物理學(xué),、化學(xué),、生物學(xué)等領(lǐng)域。
表征薄膜性質(zhì),，通過控制微弱作用力的恒定,，獲得樣品表面形貌的信息。
研究樣品表面的諸多特性,，如表面電勢,、磁場力、靜電力,、摩擦力等,。
工作方式
原子力顯微鏡的工作方式主要包括接觸模式、非接觸模式和輕敲模式等,。其中,，接觸模式是常用的方式，它通過保持針尖與樣品表面的恒定接觸力,，記錄針尖的軌跡來獲得表面形貌信息,。非接觸模式則通過保持針尖與樣品表面一定的距離，利用它們之間的相互作用力進(jìn)行掃描,。輕敲模式則是介于接觸模式和非接觸模式之間的一種方式,，它通過使針尖在樣品表面以一定頻率振動來避免對樣品的損傷。
此外,，AFM還在生物性研究中發(fā)揮著重要作用,，如生物原子力顯微鏡能夠?qū)崿F(xiàn)大范圍的大氣下或液下生物樣品表面掃描,，具有力值靈敏度高、測量范圍及高度選擇性大等特點(diǎn),，與激光共聚焦顯微鏡的聯(lián)用可以實(shí)現(xiàn)熒光圖像與原子力顯微鏡結(jié)果的準(zhǔn)確共定位,，主要運(yùn)用于表面較軟、樣品體積較大的活細(xì)胞或者對研究環(huán)境要求較嚴(yán)格,、近生理?xiàng)l件的生物樣品的研究,。