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保障膜厚儀測量示值測量精度問題需要滿足哪些要求
閱讀：1585發(fā)布時間：2021-10-20
膜厚儀，分為手持式和臺式二種,，手持式又有磁感應鍍層測厚儀,，電渦流鍍層測厚儀，熒光X射線儀鍍層測厚儀,。手持式的磁感應原理時,，利用從測頭經(jīng)過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定覆層厚度,。也可以測定與之對應的磁阻的大小,，來表示其覆層厚度。
臺式的熒光X射線膜厚儀,，是通過一次X射線穿透金屬元素樣品時·產(chǎn)生低能量的光子,，俗稱為二次熒光，,在通過計算二次熒光的能量來計算厚度值,。
基體金屬特性
對于渦流方法,，標準片基體金屬的電性質(zhì)，應當與試件基體金屬的電性質(zhì)相似,。
基體金屬厚度
檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度,，無損檢測資源網(wǎng) 如果沒有，可采用3.3中的某種方法進行校準,。
邊緣效應
不應在緊靠試件的突變處,，如邊緣、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進行測量,。
曲率
不應在試件的彎曲表面上測量,。
讀數(shù)次數(shù)
通常由于膜厚儀的每次讀數(shù)并不*相同，因此必須在每一測量面積內(nèi)取幾個讀數(shù),。覆蓋層厚度的局部差異,，也要求在任一給定的面積內(nèi)進行多次測量，表面粗造時更應如此,。
表面清潔度
測量前,，應**表面上的任何附著物質(zhì)，如塵土、油脂及腐蝕產(chǎn)物等,，但不要除去任何覆蓋層物質(zhì),。
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