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保障膜厚儀測(cè)量示值測(cè)量精度問題需要滿足哪些要求
閱讀:1338發(fā)布時(shí)間:2021-10-20
膜厚儀,,分為手持式和臺(tái)式二種,,手持式又有磁感應(yīng)鍍層測(cè)厚儀,電渦流鍍層測(cè)厚儀,,熒光X射線儀鍍層測(cè)厚儀,。手持式的磁感應(yīng)原理時(shí),利用從測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小,,來(lái)測(cè)定覆層厚度,。也可以測(cè)定與之對(duì)應(yīng)的磁阻的大小,來(lái)表示其覆層厚度,。
臺(tái)式的熒光X射線膜厚儀,,是通過(guò)一次X射線穿透金屬元素樣品時(shí)·產(chǎn)生低能量的光子,俗稱為二次熒光,,,在通過(guò)計(jì)算二次熒光的能量來(lái)計(jì)算厚度值,。
基體金屬特性
對(duì)于渦流方法,標(biāo)準(zhǔn)片基體金屬的電性質(zhì),,應(yīng)當(dāng)與試件基體金屬的電性質(zhì)相似,。
基體金屬厚度
檢查基體金屬厚度是否超過(guò)臨界厚度,無(wú)損檢測(cè)資源網(wǎng) 如果沒有,,可采用3.3中的某種方法進(jìn)行校準(zhǔn),。
邊緣效應(yīng)
不應(yīng)在緊靠試件的突變處,如邊緣,、洞和內(nèi)轉(zhuǎn)角等處進(jìn)行測(cè)量,。
曲率
不應(yīng)在試件的彎曲表面上測(cè)量。
讀數(shù)次數(shù)
通常由于膜厚儀的每次讀數(shù)并不*相同,,因此必須在每一測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù),。覆蓋層厚度的局部差異,也要求在任一給定的面積內(nèi)進(jìn)行多次測(cè)量,,表面粗造時(shí)更應(yīng)如此,。
表面清潔度
測(cè)量前,應(yīng)**表面上的任何附著物質(zhì),,如塵土,、油脂及腐蝕產(chǎn)物等,但不要除去任何覆蓋層物質(zhì),。
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