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探討導(dǎo)致漆膜測(cè)厚儀不準(zhǔn)的原因分析及處得方法
閱讀：2821發(fā)布時(shí)間：2020-10-14
影響漆膜厚度儀測(cè)量數(shù)據(jù)不準(zhǔn)的原因
每一種漆膜厚度儀器都有一個(gè)臨界厚度，大于這個(gè)厚度,，測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響;對(duì)試件表面形狀的陡變敏感,，因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的;試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響，隨著曲率半徑的減少明顯地增大,，因此,，在彎曲試件的表面上測(cè)量也是不可靠的;
基體金屬和涂層的表面粗糙度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙度增大,，影響增大,，粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測(cè)量時(shí),，在不同的位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù),，以克服這種偶然誤差。如果基體上基體金屬粗糙,，還必須在未涂的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn),，或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解去除涂層后，再校對(duì)儀器的零點(diǎn);
周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng),，會(huì)嚴(yán)重干擾磁性測(cè)厚工作;
探頭會(huì)使軟涂層試件變形,，因此在這些試件上測(cè)不出可靠的數(shù)據(jù);
妨礙探頭與涂層表面緊密接觸的附著物質(zhì)，必須清除,，在測(cè)量中,，要保持壓力恒定，探頭與試件表面保持垂直,，才能達(dá)到jing確的測(cè)量,。
磁性法測(cè)量厚度受基體金屬性變化的影響(在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的),，為避免熱處理和冷加工因素的影響,，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn);
基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成份及熱處理方法有關(guān),應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn),。
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