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影響涂層測(cè)厚儀測(cè)量值精度的因素
閱讀：1742發(fā)布時(shí)間：2017-6-19
影響因素的有關(guān)說(shuō)明
a 基體金屬磁性質(zhì)
磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響(在實(shí)際應(yīng)用中,，低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的)，為了避免熱處理和冷加工因素的影響,，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn);亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn),。
b 基體金屬電性質(zhì)
基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān),。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn),。
c 基體金屬厚度
每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度,，測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響,。本儀器的臨界厚度值見(jiàn)附表1。
d 邊緣效應(yīng)
本儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感,。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的,。
e 曲率
試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大,。因此,，在彎曲試件的表面上測(cè)量是不可靠的。
f 試件的變形
測(cè)頭會(huì)使軟覆蓋層試件變形,，因此在這些試件上測(cè)出可靠的數(shù)據(jù),。
g 表面粗糙度
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對(duì)測(cè)量有影響。粗糙程度增大,，影響增大,。粗糙表面會(huì)引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測(cè)量時(shí),，在不同位置上應(yīng)增加測(cè)量的次數(shù),，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙,，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對(duì)儀器的零點(diǎn);或用對(duì)基體金屬?zèng)]有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后,，再校對(duì)儀器的零點(diǎn)。
g 磁場(chǎng)
周圍各種電氣設(shè)備所產(chǎn)生的強(qiáng)磁場(chǎng),，會(huì)嚴(yán)重地干擾磁性法測(cè)厚工作,。
h 附著物質(zhì)
本儀器對(duì)那些妨礙測(cè)頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感，因此,，必須清除附著物質(zhì)，以保證儀器測(cè)頭和被測(cè)試件表面直接接觸,。
i 測(cè)頭壓力
測(cè)頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù),，因此，要保持壓力恒定,。
j 測(cè)頭的取向
測(cè)頭的放置方式對(duì)測(cè)量有影響,。在測(cè)量中,，應(yīng)當(dāng)使測(cè)頭與試樣表面保持垂直。FN型的涂層測(cè)厚儀既采用電磁感應(yīng)原理,，又采用采用電渦流原理,，是F型和N型的二合一型涂層測(cè)厚儀。
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