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日本KASUGA春日靜電測(cè)試儀
電子器件的抗靜電能力在下降,靜電管理電壓也在下降,。 現(xiàn)在可以測(cè)量傳統(tǒng)型號(hào)難以測(cè)量的 100 V 或更低的電荷,,精度很高,并且可以從 0.1 V 開(kāi)始測(cè)量,。 此外,,通過(guò)縮小測(cè)量區(qū)域,可以測(cè)量狹窄的區(qū)域,,例如LSI封裝的表面,。
日本KASUGA春日靜電測(cè)試儀
長(zhǎng)處
它可以測(cè)量引起靜電放電的低電位靜電。
添加了新的量程切換功能,,可以測(cè)量微小電位,。
通過(guò)縮短測(cè)量距離,可以縮小測(cè)量區(qū)域,,可以測(cè)量約20mm見(jiàn)方的面積,,并且可以高精度地測(cè)量小型電子設(shè)備的表面電位。
顯示和檢測(cè)單元是分開(kāi)的,,可以在狹窄的空間內(nèi)進(jìn)行測(cè)量,,您可以看到手頭的測(cè)量值。
通過(guò)對(duì)小型電子元件的測(cè)量,,可以測(cè)量寬物體的電位分布,。
您可以在峰值保持測(cè)量和連續(xù)測(cè)量之間切換,。
內(nèi)置檢測(cè)傳感器故障診斷電路,發(fā)生故障時(shí)顯示,。
它具有睡眠模式功能,,可防止因忘記關(guān)閉電源而導(dǎo)致的電池消耗。
用
各種電子設(shè)備的表面電位測(cè)量,。
測(cè)量印刷電路板,、平板等的電位分布
測(cè)量電荷相對(duì)較低的其他物體。
日本KASUGA春日靜電測(cè)試儀
規(guī)范
型 | KSD-3000型 |
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檢測(cè)方法 | 振動(dòng)表面電位傳感器 |
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測(cè)量范圍 | 高量程 ±1~±5000V 低量程 ±0.1~±500V |
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模擬輸出 | 0~±500mV (僅限高量程) |
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測(cè)量精度 | ±10%以?xún)?nèi) |
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測(cè)量參考距離 | 10毫米 |
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測(cè)量模式 | 連續(xù)測(cè)量或峰值保持 |
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數(shù)據(jù)存儲(chǔ) | 高達(dá) 20 分 |
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環(huán)境 | 溫度0~40°C,,濕度65%RH以下(無(wú)凝露) |
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權(quán)力 | 2 節(jié) AA 堿性電池(連續(xù)使用 10 小時(shí)或更長(zhǎng)時(shí)間) |
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大小 | 機(jī)身:121×70×22mm 探頭 :117mm×18φ |
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質(zhì)量 | 約230g(包括探頭和電池) |
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選擇 | KSD-AC1/AC適配器(AC100~240V) |
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KSD-REC/模擬輸出電纜(L=1000mm) |
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