開機HI-1710A

* 關閉電源,，將 HI-2623 微波爐探頭連接到 HI-1710A 前面的探頭連接器,。 插入連

接器,，使定位螺釘朝上。

* 將 HI-1710A 連接到交流電源,。

* 打開HI-1710A正面的電源開關,。 屏幕將顯示固件版本和其他 ETS-Lindgren 信息。

在此期間執(zhí)行一系列自檢,； 自檢完成后,，探頭準備歸零。

* 將探頭置于零場環(huán)境中,，然后按HI-1710A正面的ZERO,。歸零完成后，HI-1710A 準

備就緒,。

使用HI-1710A

檢查探頭間隔錐是否損壞,、變色或污染。錐體磨損或損壞或可能嵌入錐體中的金屬

顆粒污染可能會影響精度,。如有必要,，更換錐體。有關部件號,，請參閱第 6 頁的更

換部件和可選部件,。

讓 HI-1710A 預熱至少 10 分鐘。

* 選擇測試需要的操作設置。對于正常測試或起點,，請使用默認條件,。要選擇設置，請

參閱第 15 頁的菜單選項,、設置和命令集,。

* 開始測試前將探頭調(diào)零。當烤箱在合適的負載下運行時,，在烤箱表面上移動探頭,，保

持探頭軸線（手柄）垂直于潛在泄漏區(qū)域。

* 握住探頭的紅色手柄以避免潛在干擾,。使身體的其他部位和探頭線遠離探頭頭部附近,。

模擬條形圖顯示可用于確定最高泄漏區(qū)域。在正常模式（非峰值保持）下,，條形圖顯示

將跟蹤顯示的數(shù)字值并響應過濾后的 RF 信號,。當儀器在峰值保持模式下操作時，條形圖

顯示不會被過濾并且對 RF 強度的變化反應非?？臁呙钑r可以使用峰值保持模式來捕獲

最高泄漏區(qū)域,，而條形圖將連續(xù)顯示泄漏的瞬時變化,。

將過濾器選擇更改為 FAST 將減少系統(tǒng)的響應時間。這將更有效地顯示由于模式攪拌

器或其他調(diào)制設備導致的 RF 水平快速變化的影響,。在 SLOW 和 FAST 濾波器位置,，響

應時間滿足 RF 測量儀器響應時間的 CDRH 要求，而 SLOW 響應特性可平滑RF 變化,。

測試完成并記錄 RF 讀數(shù)后,，在下一次測試之前再次將 HI-1710A 調(diào)零。零點可能會

在很長一段時間內(nèi)逐漸漂移,。開始測試前重新歸零,。