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19035安規(guī)掃描測試儀
詳細介紹
Chroma 19035擁有5kVac/6kVdc高壓輸出,符合繞線組件之耐壓測試需求,,輸出電流可達30mA,。IR絕緣電阻測試可量測范圍為1MΩ到50GΩ,電壓輸出可達5kV,。DCR直流電阻量測除了可量測繞線組件之基本規(guī)格,,也可做為安規(guī) 耐壓測試之前連接(接觸)檢查。 其具有Flashover,、OSC (開短路偵測) 等強大附加功能,,以及可程序電壓值、時間參數(shù)等,,針對不同的待測物特性,,防止不良品輕易通過質量驗證,提升測試本身的信賴度及產(chǎn)品質量,。 為針對馬達,、變壓器、加熱器等相關繞線組件測試需求,,所設計的綜合安規(guī)測試器,。大多數(shù)繞線組件具有多組繞組,如三相馬達,、雙繞組變壓器等,,利用19035八信道掃描,無需手動切換測試點,,達成多點一次測試完成,,節(jié)省測試時間及人力成本。 還可提供OSC及DCR功能,,檢驗測試過程中是否接觸不良或有待測物短路的現(xiàn)象,,解決馬達、 變壓器等繞線組件測試時所發(fā)生的接觸問題,,提升測試質量及延長測試設備的壽命
主要特點
■支持16信道掃描測試
■高速接觸檢查 (HSCC)
■次測項功能
■OSC開短路偵測
■GFI人體保護電路
■Flashover 偵測
■面板鎖定功能
■標準RS232接口
■可選購GPIB&HANDLER接口
■CE認證 主要功能
■5kVac & 6kVdc 耐壓測試
■1MΩ~50GΩ /5kV 絕緣阻抗測試
■10mΩ~500kΩ 直流電阻測試
■8信道掃描輸出
開短路偵測
OSC功能為偵測測試過程中是否有開路(接觸不良)或短路(待測物短路)的情形發(fā)生,。測試過程中若發(fā)生開路現(xiàn)象,,會導致不良品誤判為良品 ; 若發(fā)生短路現(xiàn)象,,可提早得知并篩選,減少對治具設備的傷害,,節(jié)省測試成本,。 一般耐壓測試產(chǎn)品皆呈電容性(Cx),,在正常狀態(tài)下可能在數(shù)十pF至數(shù)µF之間。一旦發(fā)生連接斷路則會在斷路界面形成微小電容量(Cc),,一般低于10pF,, 而呈現(xiàn)整體電容量遠低于正常產(chǎn)品現(xiàn)象,而當待測物短路或接近短路時時則會呈現(xiàn)電容量遠高于正?,F(xiàn)象,,因此可利用電容量變化之上下限值判斷接線是否良好。
次測項功能 - 繞線組件多顆測試
生產(chǎn)廠商為了提升耐壓測試效率,,常以并聯(lián)測試做為解決方法,。但并聯(lián)測試時,無法正確設定電流上下限值,,導致不良品流出或良品判為不良品,,以及不良時需至后測站進行測試,增加站數(shù)及成本,。 為解決并聯(lián)測試的困擾,,19035提供次測項功能(sub-step)。當生產(chǎn)需要并聯(lián)測試時,,經(jīng)由程序的編輯,,以不良(Fail)做為次測項啟動條件。意指當測試于主測項(并聯(lián))不良時,,才會進行次測項測試 (單顆),,即可判斷出不良品為哪一顆待測物。此功能的導入,,將大幅提升產(chǎn)線的耐壓測試效率,。
范例:
STEP 1: AC Hipot / pin1 to pin5, 6, 7 Sub
step A: AC Hipot / pin1 to pin5 Sub
step B: AC Hipot / pin1 to pin6 Sub
step C: AC Hipot / pin1 to pin
40信道掃描測試
19035安規(guī)掃描測試儀每個選配件A190359掃描儀提供16個測試信道,每個信道都可設定為H(高壓輸出),、L(參考點)或是Off(不設定),。19035與A190359的組合可讓繞線組件測試更有效率。19035配合兩臺A190359,, 測試通道更可達40組,,對于多腳或多顆待測物可以一次完成接觸檢查及測試。
19035測試器與2臺16CH高壓掃描冶具A190359的接線方式
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