XF-A5SMC是西凡儀器推出的一款全新升級(jí)光路的X射線熒光光譜儀,可廣泛應(yīng)用于貴金屬產(chǎn)業(yè)鏈,、電鍍產(chǎn)業(yè)鏈,、寶石產(chǎn)業(yè)鏈等行業(yè),。該產(chǎn)品搭載美國(guó)AMPTEK定制Si-PIN探測(cè)器,配備雙準(zhǔn)直器,,內(nèi)置Intel 十核CPU工控電腦,,支持Smart FP算法,創(chuàng)新性應(yīng)用西凡第二代X射線與可見光共焦點(diǎn)垂直光路,,其可獲得更小的實(shí)際照射焦斑,。能夠精準(zhǔn)分析貴金屬成分、寶石成分,、鍍層厚度和離子濃度等,,檢測(cè)速度快,測(cè)試穩(wěn)定性好,、準(zhǔn)確性高,,性價(jià)比高。