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狹縫掃描光束分析儀NanoScan 2,， 源自2010 年加入OPHIR 集團的PHOTON INC,。PHOTON INC 自1984 年開始研發(fā)生產(chǎn)掃描式光束分析儀,，在光通訊,、LD/LED 測試等領(lǐng)域享有盛名,。掃描式與相機式光斑分析儀的互補聯(lián)合使得OPHIR可提供完備的光束分析解決方案
掃描式光束分析是一種經(jīng)典的光斑測量技術(shù),，通過狹縫/ 小孔取樣激光光束的一部分,，將取樣部分通過單點光電探測器測量強度,，再通過掃描狹縫/ 小孔的位置，復原整個光斑的分布,。
掃描式光束分析儀的優(yōu)點：
• 取樣尺度可以到微米量級,，遠小于CCD 像素，可獲得較高的空間分辨率而無需放大,；
• 采用單點探測器,，適應紫外~ 中遠紅外寬范圍波段；
• 單點探測器具備很高的動態(tài)范圍,，一個探頭可同時適應弱光和強光分析,。
掃描式光束分析儀的缺點：
• 多次掃描重構(gòu)光束分布，不適合輸出不穩(wěn)定的激光,；
• 不適合非典型分布的激光,，近場光斑有熱斑、有條紋等的狀況,。
掃描式光束分析儀與相機式光束分析儀是互補關(guān)系而非替代關(guān)系,；在很多應用，如小光斑測量（焦點測量）,、紅外高分辨率光束分析等方面,，掃描式光束分析儀具備du特的優(yōu)勢,。
NanoScan 2s 系列狹縫掃描式光束分析儀， 源自2010 年加入OPHIR 集團的PHOTON INC,。PHOTON INC 自1984 年開始研發(fā)生產(chǎn)掃描式光束分析儀,，在光通訊、LD/LED 測試等領(lǐng)域享有盛名,。掃描式與相機式光斑分析儀的互補聯(lián)合使得OPHIR可提供完備的光束分析解決方案,。
特點和功能：• 可測量連續(xù)激光以及大于1KHz 重頻的脈沖激光
• 取樣間隔可以調(diào)節(jié)小到5.7nm，使其能夠極其精確地測量非常小的光斑,，
• 可顯示2D/3D 光斑形貌
• 掃描速度可調(diào)諧
• 16 位數(shù)字化信號采集,，35dB 高動態(tài)范圍，20Hz *刷新頻率
• 支持用戶進行二次開發(fā),，便于集成
• 探頭可添加功率計選項
• 硅,、鍺和熱釋電探測器可選，測量范圍可覆蓋很寬的光譜范圍和功率級別
• 不加衰減就可以測量較高功率或焦點處光斑
• 所有的NanoScan 的校準都可以朔源NIST 標準以確保*終的精度
• 符合國際標準ISO/DIN 11146 及ISO13694,。（1989~1996 年,，Photon 公司主持了ISO/DIN 委員會的工作，制訂出了ISO/DIN11146 標準）
型號指標：
軟件功能：NanoScan 提供Standard 與Professional 兩種功能版本：
狹縫掃描光束分析儀NanoScan 2 狹縫掃描光束分析儀NanoScan 2
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