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SEM3200鎢燈絲掃描電鏡是一款高性能,、應(yīng)用廣泛的通用型鎢燈絲掃描電子顯微鏡,。擁有出色的成像質(zhì)量,、可兼容低真空模式,、在不同的視場范圍下均可得到高分辨率圖像。
大景深,，成像富有立體感,。豐富的擴(kuò)展性,，助您在顯微成像的世界中盡情探索。
產(chǎn)品分類品牌分類
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抽取系統(tǒng) PLIF 微型PIV 引伸計(jì) 照度計(jì) 地質(zhì)羅盤 拉拔儀 雷達(dá) 測力計(jì) 測厚儀 測溫儀 探傷儀 動測儀 高效純化 滅菌柜 稀釋儀 流量計(jì) 吹掃捕集裝置 檢測器 取樣器 純化器 活性劑 測試系統(tǒng) 軟件包 注射泵 模擬器 烘箱 粘度計(jì) 自動氮吹儀 乳化器 封膜機(jī) 冰點(diǎn)儀 濃縮儀 反應(yīng)系統(tǒng) 流通池 高溫附件 模塊化系統(tǒng) 微流控組件 細(xì)胞包裹系統(tǒng) 3D打印機(jī) 超臨界系統(tǒng) 手套箱 色譜 反應(yīng)器 冷藏冰箱 燃燒性測定儀 燃性測試儀 發(fā)酵罐 反應(yīng)量熱儀 萃取儀 納米顆粒 電化學(xué)儀 測試臺 實(shí)驗(yàn)臺 工作站 合成儀 粒子生成儀 流動光化學(xué)系統(tǒng)
產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
SEM3200鎢燈絲掃描電鏡是一款高性能,、應(yīng)用廣泛的通用型鎢燈絲掃描電子顯微鏡,。擁有出色的成像質(zhì)量、可兼容低真空模式,、在不同的視場范圍下均可得到高分辨率圖像,。
大景深，成像富有立體感,。豐富的擴(kuò)展性，助您在顯微成像的世界中盡情探索,。
豐富的擴(kuò)展性
SE\BSE\EDS\EBSD等
光學(xué)導(dǎo)航
可快速定位目標(biāo)樣品和感興趣區(qū)域
*大圖拼接
可實(shí)現(xiàn)全自動的采圖和拼接,，展示超大視野畫面
圖像混合成像（SE+BSE）
在一個(gè)圖像中觀察到樣品的成分和表面信息
*雙陽極結(jié)構(gòu)
雙陽極結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，提升了低電壓下的分辨率和成像質(zhì)量
*低真空模式
在低真空下提供樣品表面細(xì)節(jié)和形貌,，軟件一鍵切換真空狀態(tài)
鎢燈絲掃描電鏡產(chǎn)品特點(diǎn)（*為選配件）
低電壓
碳材料樣品,，低電壓下，穿透深度較小,，可以獲取樣品表面真實(shí)形貌,，細(xì)節(jié)更豐富。
毛發(fā)樣品,，在低電壓下,，電子束輻照損傷減小，同時(shí)消除了荷電效應(yīng),。
低真空
過濾纖維管材料,，導(dǎo)電性差，在高真空下荷電明顯,，在低真空下,，無需鍍膜即可實(shí)現(xiàn)對不導(dǎo)電樣品的直接觀察。
大視場
生物樣品,，采用大視場觀察,，能夠輕松獲得瓢蟲整體形貌及頭部結(jié)構(gòu)細(xì)節(jié)，展現(xiàn)跨尺度分析,。
導(dǎo)航&防碰撞
光學(xué)導(dǎo)航
想看哪里點(diǎn)哪里,，導(dǎo)航更輕松
標(biāo)配倉內(nèi)攝像頭，可拍攝高清樣品臺照片,，快速定位樣品,。
手勢快捷導(dǎo)航
可通過雙擊移動、鼠標(biāo)中鍵拖動,、框選放大,，進(jìn)行快捷導(dǎo)航
如框選放大：在低倍導(dǎo)航下,，獲得樣品的大視野情況，可快速框選您感興趣的樣品區(qū)域,，提高工作效率,。
防碰撞技術(shù)
采取多維度的防碰撞方案：
1. 手動輸入樣品高度，精準(zhǔn)控制樣品與物鏡下端距離,，防止發(fā)生碰撞,；
2. 基于圖像識別和動態(tài)捕捉技術(shù)，運(yùn)動過程中對倉內(nèi)的畫面進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)測,；
3. 硬件防碰撞,，可在碰撞一瞬間停止電機(jī)，減少碰撞損傷,。(*SEM3200A需選配此功能）
特色功能
智能輔助消像散
直觀反映整個(gè)視野的像散程度,，通過鼠標(biāo)點(diǎn)擊清晰處，可快速調(diào)節(jié)像散至最佳,。
自動聚焦
一鍵聚焦,，快速成像。
自動消像散
一鍵消像散,，提高工作效率,。
自動亮度對比度
一鍵自動亮度對比度，調(diào)出灰度合適圖像,。
多種信息同時(shí)成像
SEM3200軟件支持一鍵切換SE和BSE的混合成像,。可同時(shí)觀察到樣品的形貌信息和
成分信息,。
快速圖像旋轉(zhuǎn)
拖動一條線,，圖像立刻“擺正角度"。
豐富拓展性
掃描電子顯微鏡不僅局限于表面形貌的觀察,，更可以進(jìn)行樣品表面的微區(qū)成分分析,。
SEM3200接口豐富，除支持常規(guī)的二次電子探測器（ETD）,、背散射電子探測器（BSED）,、X射線能譜儀（EDS）外，也預(yù)留了諸多接口,，如電子背散射衍射（EBSD）,、陰極射線（CL）等探測器都可以在SEM3200上進(jìn)行集成。
背散射電子探測器
二次電子成像和背散射電子成像對比
背散射電子成像模式下,，荷電效應(yīng)明顯減弱,，并且可以獲得樣品表面更多的成分信息。
鍍層樣品：
鎢鋼合金樣品：
四分割背散射電子探測器——多通道成像
探測器設(shè)計(jì)精巧，靈敏度高,，采用4分割設(shè)計(jì),，無需傾斜樣品，可獲得不同方向的陰影像以及成分分布圖像,。
四個(gè)單通道的陰影像
成分像
能譜
LED小燈珠能譜面分析結(jié)果,。 
電子背散射衍射
鎢燈絲電鏡束流大，高分辨EBSD的測試需求,，能夠?qū)饘?、陶瓷、礦物等多晶材料進(jìn)行晶體取向標(biāo)定以及晶粒度大小等分析,。
該圖為Ni金屬標(biāo)樣的EBSD反極圖,，能夠識別晶粒大小和取向，判斷晶界和孿晶,，對材料組織結(jié)構(gòu)進(jìn)行精確判斷,。
應(yīng)用案例
普通芯片-1
普通芯片-2
負(fù)極-碳
負(fù)極-碳包硅
正極-鈷酸鋰
正極-錳酸鋰
太陽能電池-1
太陽能電池-2
高分子泡沫
催化劑-MOF材料
2A12鋁合金析出相
Mg-Zn合金化合物層
不銹鋼-黃銅焊接件
鈦合金基體組織
合金斷口脆性+韌性
韌性斷口
鋼鐵夾雜物BSE
鋼鐵夾雜物SE
硅藻-1
硅藻-2
雞葡萄球菌-1
雞葡萄球菌-2
大米
糯米淀粉顆粒-1
糯米淀粉顆粒-2
受潮鹽顆粒
粉體-鈦酸鋇
粉體
粉體-氧化鋁
過濾功能材料
巖石
納米材料-二氧化硅微球
SiC陶瓷BSE
SiC陶瓷SE
陶瓷復(fù)合材料
產(chǎn)品參數(shù)
| 型號 | SEM3200A | SEM3200 | ||
|---|---|---|---|---|
| 電子光學(xué)系統(tǒng) | 電子槍類型 | 預(yù)對中型發(fā)叉式鎢燈絲電子槍 | ||
| 分辨率 | 高真空 | 3 nm @ 30 kV（SE） | ||
| 4 nm @ 30 kV（BSE） | ||||
| 8 nm @ 3 kV（SE） | ||||
| *低真空 | 3 nm @ 30 kV（SE） | |||
| 放大倍率 | 1-300,000x（底片倍率） | |||
| 1-1000,000x（屏幕倍） | ||||
| 加速電壓 | 0.2 kV～30 kV | |||
| 成像系統(tǒng) | 探測器 | 二次電子探測器（ETD） | ||
| *背散射電子探測器、*低真空二次電子探測器,、*能譜儀EDS等 | ||||
| 圖像保存格式 | TIFF、JPG,、BMP,、PNG | |||
| 真空系統(tǒng) | 真空模式 | 高真空 | 優(yōu)于5×10-4 Pa | |
| *低真空 | 5～1000 Pa | |||
| 控制方式 | 全自動控制 | |||
| 樣品室 | 攝像頭 | 光學(xué)導(dǎo)航 | ||
| 樣品倉內(nèi)監(jiān)控 | ||||
| 樣品臺配置 | 三軸自動 | 五軸自動 | ||
| 行程 | X: 120 mm | X: 120 mm | ||
| Y: 115 mm | Y: 115 mm | |||
| Z: 50 mm | Z: 50 mm | |||
| / | R: 360° | |||
| / | T: -10°～ +90° | |||
| 軟件 | 語言 | 中文 | ||
| 操作系統(tǒng) | Windows | |||
| 導(dǎo)航 | 光學(xué)導(dǎo)航、手勢快速導(dǎo)航 | |||
| 自動功能 | 自動亮度對比度,、自動聚焦,、自動像散 | |||
| 特色功能 | 智能輔助消像散、*大圖拼接（選配軟件） | |||
| 安裝要求 | 房間 | 長 ≥ 3000 mm,，寬 ≥ 4000 mm,，高 ≥ 2300 mm | ||
| 溫度 | 20 ℃～25 ℃ | |||
| 濕度 | ≤ 50 % | |||
| 電氣參數(shù) | 電源AC 220 V(±10 %)，50 Hz,，2 kVA | |||
