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TH510系列半導體特性分析儀是常州同惠電子根據(jù)當前半導體功率器件發(fā)展趨勢，針對半導體材料及功率器件設計的分析儀器,。

儀器采用了一體化集成設計,，二極管、三極管、MOS管及IGBT等半導體功率器件寄生電容,、CV特性可一鍵測試,，無需頻繁切換接線及設置參數(shù)，單管功率器件及模組功率器件均可一鍵快速測試,，適用于生產(chǎn)線快速測試,、自動化集成。

CV曲線掃描分析能力亦能滿足實驗室對半導體材料及功率器件的研發(fā)及分析,。

儀器設計頻率為1kHz-2MHz,，VGS電壓可達±40V,，VDS電壓可達±200V/±1500V/±3000V,，足以滿足大多數(shù)功率器件測試。

TH510系列半導體特性分析儀性能特點：

l  一體化設計：LCR+VGS低壓源＋VDS高壓源＋通道切換＋上位機軟件

l  單管器件（點測）,、模組器件（列表掃描）,、曲線掃描（選 件）三種測試方式

l  四寄生參數(shù)（Ciss、Coss,、Crss,、Rg或Cies、Coes,、Cres,、 Rg）同屏一鍵測量及顯示

l  標配2通道，可擴展至6通道,，可測單管,、多芯或模組器件

l  CV曲線掃描、Ciss-Rg曲線掃描

l  電容快速充電技術,，實現(xiàn)快速測試

l  接觸檢査Cont

l  通斷測試OP_SH

l  自動延時設置

l  柵極電壓VGS;0 - 土40V

l  漏極電壓VDS;0 -±200V

l  10檔分選

功能特點：

A.一體化測試,，集成度高、體積小,、效率高

一臺儀器內置了LCR數(shù)字電橋,、VGS電壓源、VDS電壓源,、高低壓切換矩陣以及上位機軟件,，將復雜的接線、繁瑣的操作集成在支持電容式觸摸的Linux系統(tǒng)內,，操作更簡單,。特別適合產(chǎn)線快速化、自動化測試,。

B.單管器件測試,，10.1寸大屏，四種寄生參數(shù)同屏顯示，讓細節(jié)一覽無遺

MOSFET或IGBT最重要的四個寄生參數(shù)：Ciss,、Coss,、Crss、Rg,，Cies,、Coes、Cres,、Rg均可一鍵測試,，10.1寸大屏可同時將測量結果、等效電路圖,、分選結果等重要參數(shù)同時顯示,，一目了然。

一鍵測試單管器件器件時,，無需頻繁切換測試腳位,、測量參數(shù)、測量結果,，大大提高了測試效率,。

C.列表測試，多個,、多芯,、模組器件測量參數(shù)同屏顯示

TH510系列半導體C-V特性分析儀支持最多6個單管器件、6芯器件或6模組器件測試,，所有測量參數(shù)通過列表掃描模式同時顯示測試結果及判斷結果,。

D.曲線掃描功能（選件）

在MOSFET的參數(shù)中，CV特性曲線也是一個非常重要的指標,，如下圖

TH510系列半導體C-V特性分析儀支持C-V特性曲線分析,，可以以對數(shù),、線性兩種方式實現(xiàn)曲線掃描,，可同時顯示多條曲線：同一參數(shù)、不同Vg的多條曲線,；同一Vg,、不同參數(shù)多條曲線。

E.接觸檢查（Contact）功能,，提前排除自動化測試隱患

F.快速通斷測試（OP_SH）,排除損壞器件

在半導體器件特性測試時,，由于半器件本身是損壞件，特別是多芯器件其中一個芯已經(jīng)損壞的情況下,，測試雜散電容仍有可能被為合格,，而半導體器件的導通特性才是最重要的特性。

因此，對于本身導通特性不良的產(chǎn)品進行C-V特性測試是沒有必要的,，不僅僅浪費了測量時間,，同時會由于C-V合格而混雜在良品里，導致成品出貨后被退回帶來損失.

TH510系列半導體C-V特性分析儀提供了快速通斷測試（OP_SH）功能,可用于直接判斷器件本身導通性能,。

G.模組式器件設置,，支持定制

針對模組式器件如雙路（Dual）MOSFET、多組式IGBT,，有些器件會有不同類型芯片混合式封裝;TH510系列CV特性分析儀針對此情況做了優(yōu)化,，常見模組式芯片Demo已內置，特殊芯片支持定制.

H.簡單快捷設置

I.10檔分選及可編程HANDLER接口

J.支持定制化,，智能固件升級方式

同惠儀器對于客戶而言是開放的,，儀器所有接口、指令集均為開放設計,，客戶可自行編程集成或進行功能定制,，定制功能若無硬件更改,，可直接通過固件升級方式更新,。

儀器本身功能完善、BUG解決,、功能升級等,，都可以通過升級固件(Firmware)來進行更新，而無需返廠進行,。

固件升級非常智能,，可以通過系統(tǒng)設置界面或者文件管理界面進行，智能搜索儀器內存,、外接優(yōu)盤甚至是局域網(wǎng)內升級包,，并自動進行升級

K.解決Ciss、Coss,、Crss,、Rg產(chǎn)線/自動化系統(tǒng)高速測試精度

同惠電子在電容測試行業(yè)近30年的經(jīng)驗積累，得以在產(chǎn)線,、自動化測試等高速高精度測試場合,，都能保證電容、電阻等測試精度,。

常規(guī)產(chǎn)線測試,，提供標準0米測試夾具，直插器件可直接插入進行測試,，Ciss,、Coss、Crss、Rg測試精度高,。

針對自動化測試,，由于自動化設備測試工裝通常需要較長連接線，大多自動化設備生產(chǎn)商在延長測試線時會帶來很大的精度偏差,，為此，同惠設計了2米延長線并內置了2米校準,，保證Ciss,、Coss、Crss,、Rg測試精度和0米測試夾具一致,。

L.半導體元件寄生電容知識

在高頻電路中，半導體器件的寄生電容往往會影響半導體的動態(tài)特性,，所以在設計半導體元件時需要考慮下列因數(shù)

在高頻電路設計中往往需要考慮二極管結電容帶來的影響,；MOS管的寄生電容會影響管子的動作時間、驅動能力和開關損耗等多方面特性,；寄生電容的電壓依賴性在電路設計中也是至關重要,，以MOSFET為例。

M.標配附件

產(chǎn)品應用：

■ 半導體元件/功率元件

二極管,、三極管,、MOSFET、IGBT,、晶閘管,、集成電路、光

電子芯片等寄生電容測試,、C-V特性分析

■ 半導體材料

晶圓切割,、C-V特性分析

■ 液晶材料

彈性常數(shù)分析

■電容元件

電容器C-V特性測試及分析，電容式傳感器測試分析

同惠授權代理商：蘇州威銳科電子有限公司

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