光模塊是現(xiàn)代通信技術(shù)的核心組成部分,，廣泛應(yīng)用于數(shù)據(jù)中心、5G網(wǎng)絡(luò)和光纖通信等領(lǐng)域,。光模塊通常由光發(fā)射組件,、光接收組件、激光器芯片（LD）,、探測器芯片(PD）等部件組成,。為了確保這些器件在高性能、高速率和高穩(wěn)定性的要求下正常運(yùn)行,，測試設(shè)備的精確性和可靠性至關(guān)重要,。ITECH的IT2800系列源表憑借其高精度、高分辨率和高速脈沖掃描優(yōu)勢,，為光模塊及其核心光電芯片測試提供了優(yōu)秀的解決方案,。
以一個標(biāo)準(zhǔn)的激光芯片測試為例，其LIV特性的核心測試參數(shù)包括：
1,、IV特性---給激光芯片的兩端施加正向的驅(qū)動電流（比如從1mA到100mA,，階梯為1mA），進(jìn)行掃描得到IV特性曲線,。
2,、光功率測試---測試激光芯片在每個電流臺階驅(qū)動下的發(fā)光的光功率。
3,、暗電流測試---測試LD在每個電流臺階上的背光電流,，電流通常為mA,，uA甚至跟小級別。
有些廠家會將LIV測試和光譜分析在同一測試中進(jìn)行,，以簡化測試,。當(dāng)然，除了LIV測試,，激光芯片還需要進(jìn)行可靠性測試,，例如在不同溫濕度條件下，驗(yàn)證其性能的穩(wěn)定性,。
IT2800系列源表為激光芯片的LIV特性測試提供精準(zhǔn)的解決方案
IT2800系列源表集六種設(shè)備功能于一體（電壓源,、電流源、DVM,、電子負(fù)載,、電池模擬器、電池模擬器）,，提供DC和脈沖兩種輸出模式,，能夠滿足光模塊成品和高精密光芯片測試中的多種需求。
1.高精度測量----激光芯片的暗電流測試
在暗電流測量中,，IT2800系列提供高達(dá)100nV/10fA的電流分辨率,，能夠精確捕捉微弱電流信號，為光芯片的性能評估提供重要依據(jù),。同時,，為顯著提升nA至pA微弱電流的測量結(jié)果穩(wěn)定性，IT2800系列提供專業(yè)的高屏蔽三同軸線纜等選配件,，解決實(shí)際測量中,，微弱電流信號受到外部干擾而導(dǎo)致測量出現(xiàn)較大偏差等常見問題,。
2.DC和脈沖掃描輸出模式-----激光芯片LIV特性測試
IT2800系列源表通過精準(zhǔn)輸出恒定電流,，為激光芯片提供驅(qū)動電流信號，并同步測量光芯片的光功率輸出,，可幫助用戶實(shí)現(xiàn)光電轉(zhuǎn)換效率測試,。同時，IT2800系列還提供多種掃描模式,，如Linear/Log/ Pulsed Linear/ Pulsed Log,，用戶可以通過該內(nèi)置的掃描功能快速生成激光芯片的IV特性曲線，提高測試效率,。
優(yōu)勢1：IT2800系列采用大屏顯示,，可直接測試并輸出IV測試，高效便捷
優(yōu)勢2：脈沖輸出高速且無過沖
光模塊和光芯片作為現(xiàn)代通信技術(shù)的基石,，其測試的精準(zhǔn)性和可靠性決定了終端設(shè)備的性能表現(xiàn),。ITECH艾德克斯IT2800系列源表憑借高精度,、多合一設(shè)計，及高效的測量方案,，為光模塊和光芯片的測試提供了各方面的支持,，幫助客戶提升產(chǎn)品質(zhì)量，加速研發(fā)進(jìn)程,。
我們的優(yōu)勢：是德,、泰克、日置,、固緯,、艾德克斯、普源,、同惠,、鼎陽、安柏等,。
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