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近幾年隨著汽車向電動化,、智能化和網(wǎng)聯(lián)化方向發(fā)展,，汽車有限的空間內(nèi)集成了越來越多的電子設(shè)備，這些電子設(shè)備也帶來越來越多的電磁兼容問題,。為了應(yīng)對電磁兼容問題,，電子零部件在裝上整車前必須進(jìn)行電磁兼容測試。其中大電流注入(Bulk Current Injection,BCI)法因僅需在屏蔽室內(nèi)進(jìn)行,，成本較必須在電波暗室進(jìn)行的輻射抗擾度低得多,，同時(shí)不侵入被測設(shè)備的特點(diǎn)，成為電子部件驗(yàn)證的必選方法,。

大電流注入(BCI)法是使用電流注入探頭將騷擾信號直接耦合到線束上進(jìn)行抗擾度試驗(yàn)的一種方法,。注入探頭為電流互感器，被測裝置(EUT)的線束穿過其中,。通過改變試驗(yàn)嚴(yán)酷等級和感應(yīng)騷擾的頻率進(jìn)行抗擾試驗(yàn),。

　　【汽車大電流注入BCI測試試驗(yàn)方法】

　　采用大電流注入法進(jìn)行抗擾度測試的測試方法一般分為替代法和閉環(huán)法。

　　替代法是指在使用電流注入鉗校準(zhǔn)裝置得到相應(yīng)測試電平對應(yīng)的信號源電平后,，測試時(shí),，直接輸出信號源電平。要求在離EUT 150mm,、450mm和750mm等三個(gè)位置,，放置注入鉗進(jìn)行測試。如圖一所示,。

圖一 BCI試驗(yàn)布置-替代法

　　閉環(huán)法是指：在使用電流注入鉗校準(zhǔn)裝置得到相應(yīng)測試電平對應(yīng)的信號源電平后(記錄此時(shí)的凈功率為校準(zhǔn)功率),，測試時(shí)，使用電流探頭監(jiān)視實(shí)際注入的電流,，如果注入功率比校準(zhǔn)功率大4倍,，測量到的注入電流還是沒有達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的電流，就停止加大注入功率。要求注入鉗放置在距離EUT 900mm 處,，電流探頭在50mm 處,。如圖二所示。

圖二 BCI試驗(yàn)布置-閉環(huán)法

　　替代法和閉環(huán)法存在以下差異：

　　A,， 替代法的試驗(yàn)線束長度為1700mm,，閉環(huán)法的試驗(yàn)線束長度為1000mm;

　　B， 替代法的電流注入位置為150mm,、450mm、750mm,，而閉環(huán)法的電流注入位置為900mm;

　　C,， 閉環(huán)法必須使用電流監(jiān)測探頭，探頭位于50mm處,，而替代法測試中一般不使用電流監(jiān)測探頭;

　　D,， 替代法是一種基于給定注入功率的開環(huán)測試，而閉環(huán)法則是通過電流監(jiān)測探頭實(shí)時(shí)監(jiān)測的閉環(huán)測試,。

　　【汽車大電流注入BCI測試試驗(yàn)裝置】

　　該試驗(yàn)需在屏蔽室中進(jìn)行,，所需的主要試驗(yàn)設(shè)備有：信號源(帶調(diào)制功能)、功率放大器,、功率計(jì),、人工電源網(wǎng)絡(luò)、電流注入探頭,、電流注入探頭校準(zhǔn)夾具,、電流監(jiān)測探頭等。圖三為測試系統(tǒng)連接框圖,。

圖三 BCI測試系統(tǒng)連接框圖

　　【試驗(yàn)布置】

　　在測試平臺的布局中,，被測設(shè)備及線束放在接地平板上方50mm處，其中,，接地平板應(yīng)采用至少0.5mm 厚的銅板,、黃銅或者鍍鋅鋼板。最小寬度為1000mm,，最小長度為 2000mm,，或者比整個(gè)設(shè)備的各邊大200mm，取兩者中尺寸較大的平板,。接地平板(試驗(yàn)臺)的高度應(yīng)位于地面上(900±100)mm 處,，接地平板與屏蔽殼體電氣搭接，接地銅帶之間的距離為300mm,，直流電阻不得超過2.5mΩ,。在線束和銅板之間由厚度為50mm，相對介電常數(shù)(≤ 1.4)的材料作為支撐。電源通過兩個(gè)人工源網(wǎng)絡(luò)給被測設(shè)備供電,，其中,，一個(gè)人工源網(wǎng)絡(luò)與電源的正極相連，另一個(gè)與電源的負(fù)極相連,。圖四,、圖五為試驗(yàn)布置圖。

圖四 試驗(yàn)布置-側(cè)視圖

圖五 試驗(yàn)布置-俯視圖

　　【汽車大電流注入BCI測試試驗(yàn)過程】

　　5.1 替代法試驗(yàn)過程

　　替代法使用前向功率做為校準(zhǔn)和測試的參考基準(zhǔn),，使用未調(diào)制的正弦波進(jìn)行校準(zhǔn),。

　　5.1.1 校準(zhǔn)

　　根據(jù)規(guī)定的試驗(yàn)等級(電流)進(jìn)行校準(zhǔn)，記錄各個(gè)試驗(yàn)頻率下在50Ω校準(zhǔn)夾具上產(chǎn)生規(guī)定電流所需的前向功率,。校準(zhǔn)夾具的一端連接50Ω負(fù)載(大功率),，另一端連接50Ω射頻功率計(jì)，并串接相應(yīng)功率的50Ω衰減器來保護(hù)功率計(jì),。在夾具上施加試驗(yàn)信號電平并記錄相應(yīng)的前向功率,。這種方法標(biāo)定了試驗(yàn)前大電流注入系統(tǒng)預(yù)定功率和電流的關(guān)系。如圖六所示,。

圖六 替代法校準(zhǔn)布置

　　5.1.2 測試

　　在對連接線束后的EUT進(jìn)行測試時(shí),，把預(yù)定功率施加到注入探頭里。應(yīng)注意,，監(jiān)測到的用于注入探頭的功率為預(yù)定功率,。測試布置依據(jù)圖一所示。

　　5.2 閉環(huán)法試驗(yàn)過程

　　閉環(huán)法使用前向功率做為校準(zhǔn)和測試的參考基準(zhǔn),，使用未調(diào)制的正弦波進(jìn)行校準(zhǔn),。

　　5.2.1 校準(zhǔn)

　　用于確定EUT測試的功率限值。根據(jù)規(guī)定的試驗(yàn)等級(電流)在測試前進(jìn)行校準(zhǔn), 確定各個(gè)試驗(yàn)頻率在50Ω校準(zhǔn)夾具上產(chǎn)生規(guī)定電流所需的前向功率,。校準(zhǔn)夾具的一端連接50Ω負(fù)載(大功率),，另一端連接50Ω射頻功率計(jì)，并串接相應(yīng)功率的50Ω衰減器來保護(hù)功率計(jì),。在夾具上施加試驗(yàn)信號電平并記錄相應(yīng)的前向功率,。這種方法標(biāo)定了試驗(yàn)前大電流注入系統(tǒng)預(yù)定功率和電流的關(guān)系。如圖六所示,。

　　5.2.2 測試

　　測試時(shí),，使用電流探頭監(jiān)視實(shí)際注入的電流，如果注入功率比校準(zhǔn)功率大4倍,，測量到的注入電流還是沒有達(dá)到標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的電流,，就停止加大注入功率。測試布置依據(jù)圖二所示,。

大電流注入法產(chǎn)品配置：