汽車電子零部件EMC測(cè)試失敗時(shí)有發(fā)生，發(fā)射測(cè)試的失敗經(jīng)常困擾著現(xiàn)場(chǎng)跟進(jìn)的工程師們,，電磁發(fā)射看不見(jiàn)摸不著,，怎么快速定位引起發(fā)射失敗的干擾源？
隨著信息化的發(fā)展,， MCU運(yùn)算和信息存儲(chǔ)速度越來(lái)越快,，高速時(shí)鐘、快速運(yùn)算和存儲(chǔ)信號(hào)會(huì)引起的很強(qiáng)的電磁干擾,；由于系統(tǒng)集成度越來(lái)越高,，零部件的體積越來(lái)越小，零部件模塊干擾之間的相互耦合不可避免,，很容易將內(nèi)部的干擾帶出來(lái)從而引起發(fā)射測(cè)試失敗,。
另一方面，受能耗越來(lái)越小的要求,，開(kāi)關(guān)電源大量使用在汽車電子零部件中,，開(kāi)關(guān)電源的快速開(kāi)關(guān)切換也會(huì)引起很強(qiáng)的電磁發(fā)射；新能源汽車的電機(jī)控制器,、DC/DC,、OBC等零部件，都有很高的電源功率轉(zhuǎn)換模塊,，這些模塊也會(huì)帶來(lái)很強(qiáng)的電磁干擾,。
汽車電子零部件EMC發(fā)射測(cè)試包含CTE(電源線瞬態(tài)傳導(dǎo)發(fā)射），MFE(低頻磁場(chǎng)發(fā)射),，CE(傳導(dǎo)發(fā)射-AN(電壓法)和CP(電流法))以及RE(輻射發(fā)射)四項(xiàng),，下面我們來(lái)一一解析：
1、CTE測(cè)試失敗
CTE測(cè)試的失敗一般由內(nèi)部大功率的磁性器件引起,，如電機(jī)的線圈,，電磁鐵的線圈、濾波電路中的大功率電感等,，這些部件在關(guān)閉的瞬間會(huì)產(chǎn)生很強(qiáng)的瞬態(tài)脈沖,。
2、MFE測(cè)試失敗
MFE測(cè)試的失敗一般由內(nèi)部大功率的磁性器件引起,，如電機(jī)的線圈,，電磁鐵的線圈、新能源部件中的大功率感性部件等,，這些部件在工作時(shí)會(huì)產(chǎn)生的低頻磁場(chǎng)干擾,。
3、CE測(cè)試失敗
CE測(cè)試中的失敗一般由開(kāi)關(guān)電源和地處理不良引起,，測(cè)試數(shù)據(jù)中的窄帶騷擾引起超標(biāo)一般為開(kāi)關(guān)電源引起,，寬帶騷擾超標(biāo)一般由地處理不良引起,。
開(kāi)關(guān)電源模塊引起的AN測(cè)試失敗-窄帶騷擾
地處理不良引起的CP測(cè)試失敗-寬帶騷擾
4、RE測(cè)試失敗
RE測(cè)試中的低頻失敗一般由開(kāi)關(guān)電源和地處理不良引起,，高頻失敗一半為內(nèi)部時(shí)鐘或晶振的處理不良引起倍頻超標(biāo),，這些信號(hào)會(huì)有很強(qiáng)的規(guī)律，很容易區(qū)分,。
EMC檢測(cè)作為產(chǎn)品性能測(cè)試的重要指標(biāo)之一,，對(duì)汽車安全及產(chǎn)品品質(zhì)至關(guān)重要。汽車電子零部件EMC測(cè)試發(fā)射雖然看不見(jiàn),、摸不著,，但還是有一定的規(guī)律可循，如遇到失敗,，可多和實(shí)驗(yàn)室的測(cè)試人員和項(xiàng)目工程師進(jìn)行溝通,，可幫助客戶快速定位發(fā)射失敗的原因，協(xié)助客戶解決EMC發(fā)射失敗問(wèn)題,。
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