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蘇州品恩儀器科技有限公司
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GX53-倒置金相顯微鏡
  • GX53-倒置金相顯微鏡

貨物所在地:江蘇蘇州市

更新時間:2025-01-26 21:00:07

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( 聯(lián)系我們,,請說明是在 化工儀器網(wǎng) 上看到的信息,,謝謝!)

GX53倒置金相顯微鏡具有清晰圖像和高倍分辨率,。該顯微鏡的模塊化設(shè)計擁有包含編碼物鏡轉(zhuǎn)換器和軟件在內(nèi)的附件,,可以更方便地進(jìn)行定制,以滿足您的要求,。

快速分析較厚的大尺寸樣品材料

專為鋼鐵,、汽車、電子和其他制造行業(yè)設(shè)計的GX53倒置金相顯微鏡能夠提供傳統(tǒng)顯微鏡觀察方法難以獲得的清晰圖像,。將該顯微鏡與PRECiV圖像分析軟件配合使用時,,從觀察到圖像分析和報告的整個檢測流程都將變得更加順暢。

1.jpg

快速檢測,,功能先進(jìn)

快速觀察,、測量和分析金相結(jié)構(gòu),。

先進(jìn)的分析工具

1.采用組合觀察方法獲得出色圖像;

2.輕松生成全景圖像,;

3.生成全聚焦圖像,;

4.采集明亮區(qū)域和暗光區(qū)域;

專為材料科學(xué)而優(yōu)化

1.專為材料科學(xué)而設(shè)計的軟件,;

2.符合行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)要求的金相分析  ,;

人性化

即使是新手操作員也可以輕松完成樣品觀察、結(jié)果分析和報告創(chuàng)建,。

1.輕松恢復(fù)顯微鏡設(shè)置,;

2.用戶指導(dǎo)讓高級分析變得更加簡單;

3.高效生成報告,;

先進(jìn)的成像技術(shù)

我們成熟可靠的光學(xué)和成像技術(shù)可提供清晰的圖像和可靠的結(jié)果,。

1.可靠的光學(xué)性能:波前像差控制;

2.清晰的圖像:圖像陰影校正,;

3.一致的色溫:高強度白光LED照明,;

4.精確測量:自動校準(zhǔn);

模塊化

根據(jù)您的應(yīng)用要求選擇所需的組件,。

1.打造專屬于您的系統(tǒng):利用各種可選組件獲得全面定制的系統(tǒng) ,。


先進(jìn)的分析工具

GX53倒置金相顯微鏡的各種觀察功能可提供清晰、銳利的圖像,,讓您能夠?qū)悠愤M(jìn)行可靠的缺陷檢測,。PRECiV圖像分析軟件的新型照明技術(shù)和圖像采集方案可為樣品評估和結(jié)果記錄提供更多選擇。

高數(shù)值孔徑和長工作距離相結(jié)合

物鏡對顯微鏡的性能至關(guān)重要,。新的MXPLFLN物鏡通過同時實現(xiàn)數(shù)值孔徑和工作距離,,為MPLFLN系列落射式照明成像增加了深度。放大20倍和50倍時,,分辨率越高,,通常意味著工作距離越短,這會迫使樣品或物鏡在物鏡交換過程中縮回,。在許多情況下,,MXPLFLN系列的3 mm工作距離消除了這一問題,使檢查速度更快,,物鏡碰到樣品的可能性更小,。

物鏡.jpg

從不可見到可見:MIX技術(shù)

MIX技術(shù)將暗場與另一種觀察方法(例如明場或偏振)相結(jié)合,使您能夠查看傳統(tǒng)顯微鏡難以觀察的樣品,。圓形LED照明器具有定向暗場功能,,可在規(guī)定時間照射一個或多個象限,減少樣品的光暈,,以便更好地觀察表面紋理,。

印刷電路板的橫截面.jpg


輕松生成全景圖像:即時MIA

使用多圖像拼接(MIA)功能時,,只需轉(zhuǎn)動手動載物臺上的XY旋鈕即可輕松完成圖像拼接 — 電動載物臺為可選件。PRECiV軟件采用模式識別生成全景圖像,,非常適合檢查滲碳和金屬流動情況,。


螺栓的金屬流動.jpg


生成全聚焦圖像:EFI

PRECiV軟件的景深擴(kuò)展(EFI)功能可采集高度超出景深范圍的樣品圖像。EFI可將這些圖像堆疊在一起,,生成樣品的單幅全聚焦圖像,。即使分析表面不平整的橫截面樣品時,EFI也能創(chuàng)建全聚焦圖像,。

EFI配合手動或電動Z軸聚焦裝置,,可生成高度圖像,,對結(jié)構(gòu)進(jìn)行可視化觀察,。


樹脂零件.jpg


利用HDR同時采集明亮區(qū)域和暗光區(qū)域

采用先進(jìn)圖像處理技術(shù)的高動態(tài)范圍(HDR)可調(diào)整圖像內(nèi)的亮度差異,從而減少眩光,。該功能還有助于增強低對比度圖像的對比度,。HDR可用于觀察電子器件中的微小結(jié)構(gòu)并識別金屬晶界。


QQ截圖20230516140702.jpg

PRECiV軟件 — 針對材料科學(xué)優(yōu)化

GX53顯微鏡和PRECiV軟件可為滿足各種行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)要求的金相分析方法提供支持,。通過分步操作指導(dǎo),,用戶可輕松快捷地完成樣品分析。

顆粒分析 — 計數(shù)和測量解決方案

計數(shù)和測量解決方案采用高級閾值法,,能夠可靠地分離目標(biāo)(如顆粒和劃痕)與背景,。可使用超過50種不同的參數(shù)對樣品進(jìn)行測量或評級,,包括形狀,、大小、位置和像素特性等,。


顆粒分析.jpg

微觀結(jié)構(gòu)中的晶粒尺寸

測量晶粒尺寸并分析鋁,、鋼晶體結(jié)構(gòu)(例如鐵素體和奧氏體)以及其他金屬的微觀結(jié)構(gòu)。

支持的標(biāo)準(zhǔn):ISO,、GOST,、ASTM、DIN,、JIS,、GB/T

鐵素體晶粒的微觀結(jié)構(gòu).jpg

評估石墨球化率

評估鑄鐵樣品(球墨和蠕墨)的石墨球化率和含量。對石墨節(jié)點的形態(tài),、分布和大小歸類,。

支持的標(biāo)準(zhǔn):ISO、NF,、ASTM,、KS,、JIS、GB/T

顯示球狀石墨結(jié)構(gòu)的延性鑄鐵

顯示球狀石墨結(jié)構(gòu)的延性鑄鐵.jpg

鑄鐵解決方案


高純度鋼中非金屬夾雜物含量的評定

對在惡劣視場采集圖像中的非金屬夾雜物或手動發(fā)現(xiàn)的惡劣夾雜物進(jìn)行分類,。

支持的標(biāo)準(zhǔn):ISO,、EN、ASTM,、DIN,、JIS、GB/T,、UNI

含非金屬夾雜物的鋼


含非金屬夾雜物的鋼.jpg

夾雜物惡劣視場解決方案


比較樣品圖像和參考圖像

對在惡劣視場采集圖像中的非金屬夾雜物或手動發(fā)現(xiàn)的惡劣夾雜物進(jìn)行分類,。

支持的標(biāo)準(zhǔn):ISO、EN,、ASTM,、DIN、JIS,、GB/T,、UNI

比較樣品圖像和參考圖像.jpg

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