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當前位置:> 供求商機> SU3800/SU3900-掃描電子顯微鏡
從廣域到微小領域的觀察分析,。 廣泛活躍在材料或產(chǎn)品的品質(zhì)管理中,。
掃描電子顯微鏡SU3800/3900在生產(chǎn)鋰離子電池過程中,被廣泛用于來料檢測,、生產(chǎn)異物的分析等,。可j以實現(xiàn)顆粒的細微表面形貌分析,、三維形狀分析,,EDS構成信息分析等多維分析。多種分析均可實現(xiàn)自動化,,有望提升鋰離子電池的生產(chǎn)效率,。
兼?zhèn)洳僮餍院蛿U展性,也可應對大樣品的觀察,。
SU3800/SU3900掃描電子顯微鏡搭載了多功能大樣品倉,,大樣品的分析;搭配多附件,,可對正極材料進行多方位分析,。另外,可搭載直徑可達200mm(3800),,300mm(3900)的樣品,,進行多個樣品的一并分析。
多功能超大樣品倉
· 樣品臺可搭載超大/超重樣品
· 通過更換樣品提示,,可防止由于與樣品的接觸而損壞設備或樣品
GUI上顯示更換樣品的操作步驟,。可以避免因人為的誤操作而導致樣品污染或損壞,。即使是難以檢測高度的凹凸不平的樣品或者是超大樣品,,也能夠輕松更換。
· 樣品交換倉*
選配樣品交換倉,,可在主樣品倉保持真空的狀態(tài)下快速更換樣品,,大大提高了工作效率。
· 具備樣品臺移動限制解除功能,提高了自由度*
SU3800 / SU3900掃描電子顯微鏡配置了樣品臺自由模式,,開放了樣品臺移動的自由度,。操作人員可自行判斷,自由移動樣品臺。
※選擇樣品臺自由模式時,,請同時選配紅外CCD探測器,。
· 紅外CCD探測器*,提高了樣品臺移動的安全性
紅外CCD探測器是用于監(jiān)控樣品倉內(nèi)部的裝置,。通過使用紅外線攝像機,,可以在觀察SEM圖像的同時監(jiān)視樣品倉內(nèi)部情況。為了獲得更詳細的位置,,放大CCD圖像,,并且移動觀察位置。
*配件
· 支持全視野移動,SEM MAP支持超大樣品的全視野觀察
1,、與GUI聯(lián)合,,可配備樣品倉室導航相機
與GUI聯(lián)合的SEM MAP,正是因為采用了樣品倉室導航相機,,才得以實現(xiàn)廣角相機導航功能*,。在SEM MAP上指出觀察目標位置,可以順利地移動到任意的位置上,。使用大視野相機導航系統(tǒng)拍攝的圖像或外部圖像,,通過自由放大或縮小圖像,可以將大視野的彩色圖像切換到高倍率的SEM圖像,。
*配件
2,、覆蓋整個可觀察區(qū)域
相機導航系統(tǒng)通過圖像拼接功能可以實現(xiàn)大視野的SEM MAP觀察。觀察區(qū)域為直徑130mm(SU3800)/ 直徑200mm(SU3900),,并且可以與樣品臺R一起聯(lián)動,,移動到大型樣品的觀察區(qū)域。
3,、支持360度旋轉(zhuǎn)
SEM MAP操作界面可直觀的顯示樣品與探測器的位置關系,,因此在觀察高度差大的樣品時,,可根據(jù)需求旋轉(zhuǎn)樣品臺或電子束來獲得觀察分析位置,,避免陰影效應造成的影響。
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