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清潔度檢測介紹

時(shí)間:2023/7/5閱讀:945
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一,、前言

1.1,、清潔度檢測的概念:

清潔度檢測是指零件,、總成和整機(jī)特定部位被雜質(zhì)污染的程度,。用規(guī)定的方法從規(guī)定的特征部位采集到雜質(zhì)微粒的質(zhì)量、大小和數(shù)量來表示,。這里所說的“規(guī)定部位"是指危及產(chǎn)品可靠性的特征部位,。這里說的“雜質(zhì)",包括產(chǎn)品設(shè)計(jì)制造運(yùn)輸使用和維修過程中,,本身殘留的,、外界混入的和系統(tǒng)生成的全部雜質(zhì)。

1.2,、引用標(biāo)準(zhǔn):

IS0 16232,、VDA 19、ISO4406/4407,、GB/T 3821-2005  《中小功率內(nèi)燃機(jī)清潔度測定方法》

1.3,、清潔度檢測使用范圍:

涉及應(yīng)用包括:發(fā)動機(jī)、航空,、半導(dǎo)體,、數(shù)據(jù)存儲,、醫(yī)療設(shè)備、通訊,、精密儀表,,大型工礦設(shè)備的磨損監(jiān)測等。

二,、 清潔度檢測設(shè)備:

ACS-AE-D清潔度萃取設(shè)備.jpgCIX100清潔度檢測.jpg










2.1,、化學(xué)清洗劑: NY120溶劑油、無水乙醇,、95%乙醇,、蒸餾水或脫礦物質(zhì)水、AP760等,;

2.2,、過濾膜:依據(jù)所選用清洗溶劑不同,常用的濾膜材質(zhì)有:尼龍膜(NYL),、聚四氟乙烯膜(PTFE),、混合纖維素脂膜(MCE)、聚碳酸酯膜(PC)等,; 0.45μm——用于初始溶劑過濾及噴槍管路溶劑過濾,;

三、 操作步驟:

先將浸泡過的空白濾膜放入培養(yǎng)皿中烘箱內(nèi),,烘干后置于干燥皿中自然冷卻稱重,,最后記錄空白濾膜及培養(yǎng)皿的重量。

清潔度檢測工作包括抽樣,、解體,、清洗、過濾,、烘干,、分析等內(nèi)容,工作程序如下圖所示,。

1.jpg

3.1,、清洗:將工件置于清洗槽上方,將燒杯的接收器置于洗槽漏斗下方,,收集所有的清洗液,。打開通風(fēng)裝置及加壓裝置,手持噴槍開始對工件位置進(jìn)行清洗(清洗過程應(yīng)避免清洗液濺出槽外),。使用完畢后,,繼續(xù)開噴槍將罐內(nèi)剩余清洗液全部壓出

3.2、過濾:將專用濾膜放在濾杯與砂芯之間夾緊,,將待過濾的溶劑倒入濾杯內(nèi),。過濾應(yīng)盡可能抽干清洗液,,以減少烘干恒重時(shí)間,同時(shí)防止膜面殘留揮發(fā)性清洗液過多而導(dǎo)致烘干時(shí)發(fā)生危險(xiǎn),。

3.3,、烘干:將濾膜連同濾出的雜質(zhì)一起放入培養(yǎng)皿中,放入烘箱內(nèi)烘干,,結(jié)束后置于干燥皿中自然冷卻后稱重兩次,。

3.4、 稱量:將經(jīng)過烘干冷卻的帶有雜質(zhì)濾膜的培養(yǎng)皿放在天平上稱量,,讀數(shù)精確到 0.1mg,;解體過程中的收集的異物也需進(jìn)行稱重。過濾后的濾膜與空白濾膜的重量差即為工件雜質(zhì)重量,。

3.5,、清潔度分析:將待檢濾膜使用濾膜夾具置于電動平臺上,依據(jù)相關(guān)檢測標(biāo)準(zhǔn)中要求的顆粒大小,,選用適合的放大倍率及檢測標(biāo)準(zhǔn),。設(shè)定掃描區(qū)域后,系統(tǒng)自動進(jìn)行濾膜掃描拼圖,,并依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)對顆粒進(jìn)行自動分析統(tǒng)計(jì),,集成的報(bào)告工具自動生成基于標(biāo)準(zhǔn)或客戶模板的標(biāo)準(zhǔn)文檔。

四,、顯微顆粒計(jì)數(shù)法

我們將就ISO 16232,、VDA 19標(biāo)準(zhǔn)中關(guān)于顯微顆粒計(jì)數(shù)法做相關(guān)的介紹說明。首先先來一起了解相關(guān)顯微計(jì)數(shù)法的基本原理:依據(jù)ISO 16232標(biāo)準(zhǔn)中所規(guī)定的方法,,對從測試部件上清洗顆粒所用的清洗液在濾膜過濾器上進(jìn)行過濾,,然后用顯微技術(shù)對分離的顆粒進(jìn)行計(jì)數(shù)和粒度分析。

ISO 16232測量參數(shù)——最大卡規(guī) 直徑定義:顆粒兩條平行外切直線間的最長距離,。

2.jpg

由于光學(xué)顯微鏡每次觀察的視野范圍有限,,所以需要匹配電動掃描平臺及相應(yīng)的軟件來獲得濾膜的整個(gè)表面計(jì)數(shù),。對于汽車零部件供應(yīng)商而言,,零部件功能不同導(dǎo)致清潔度檢測最小顆粒要求也不同,如何選擇清潔度系統(tǒng)中的顯微光學(xué)部分會存在一定的疑問,,其實(shí)標(biāo)準(zhǔn)中對于這方面也有明確的規(guī)定,。

3.jpg

簡單而言,就是以最小的統(tǒng)計(jì)顆粒尺寸來確定顯微光學(xué)部分:清潔度報(bào)告需要從25um以上顆粒開始統(tǒng)計(jì)選擇平行光路體式顯微鏡,;清潔度報(bào)告需要從2um以上顆粒開始統(tǒng)計(jì)則選擇金相顯微鏡,。

由于金相顯微鏡一般都配有多顆物鏡,如何正確的選擇對應(yīng)的物鏡來進(jìn)行顆粒掃描,,標(biāo)準(zhǔn)中也給出了相應(yīng)的答案:選擇的物鏡光學(xué)分辨率應(yīng)該等于或者小于最小待測顆粒大小的1/10. 如果顆粒小于20 μm,, 那么最小顆粒大小的1/5也是在標(biāo)準(zhǔn)中允許的,。

4.jpg

同樣在VDA 19標(biāo)準(zhǔn)中對于目前大多數(shù)零部件廠商的清潔度顆粒要求也提出以25或50um的顆粒以上統(tǒng)計(jì)亦能夠滿足要求。

由于物鏡倍率越高相應(yīng)的視野范圍越小,,在對整個(gè)濾膜進(jìn)行掃描,、統(tǒng)計(jì)時(shí)花費(fèi)的時(shí)間也就越長,所以依據(jù)執(zhí)行的標(biāo)準(zhǔn)要求選擇合適的倍率,,可以顯著的提高清潔度檢測效率,。ISO16232-2007、VDA 19.2-2010中對統(tǒng)計(jì)顆粒的等級劃分也做了相應(yīng)的說明,。

5.jpg                  

由于生產(chǎn)加工中產(chǎn)生的金屬顆粒在裝配使用過程中極易對部件造成不可逆的損壞,,現(xiàn)在很多廠商對于雜質(zhì)中的金屬顆粒非常敏感,所以清潔度分析過程中對于金屬,、非金屬的正確區(qū)分也格外關(guān)注,。目前主流的區(qū)分方式為偏光二次掃描,即在正交偏光與平行偏光狀態(tài)分別掃描一次,,針對同一顆粒在二次掃描中的灰度值變化進(jìn)行自動判定,。



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