sanko-denshi膜厚計SWT-NEO 的介紹

時間：2025/3/19閱讀：107

Sanko-Denshi（三光電機）是一家知的名的日本公司,，專注于生產(chǎn)各種精密測量儀器,，其中包括膜厚計。Sanko-Denshi的膜厚計SWT-NEO是一款用于測量薄膜厚度的高精度儀器,，廣泛應用于電子,、半導體、光學,、材料科學等領域,。以下是關于Sanko-Denshi膜厚計SWT-NEO的詳細介紹：

一、產(chǎn)品概述

品牌：Sanko-Denshi（三光電機）
型號：SWT-NEO
類型：光學膜厚測量儀
用途：用于測量各種薄膜的厚度,，包括透明薄膜,、金屬薄膜、半導體薄膜等,。

二,、工作原理

光學干涉法：SWT-NEO采用光學干涉原理進行膜厚測量。通過發(fā)射一束激光到薄膜表面,，反射光和透射光之間會發(fā)生干涉現(xiàn)象,。通過分析干涉條紋的變化，可以精確計算出薄膜的厚度,。
高精度測量：該方法具有高精度和高分辨率,，能夠測量納米級厚度的薄膜。

三,、功能特點

高精度測量：能夠測量納米級厚度的薄膜,，測量精度可達亞納米級別。
非接觸式測量：采用光學測量方法,，無需接觸樣品,，避免對樣品造成損傷。
多種測量模式：支持多種測量模式,，包括單點測量,、多點測量和掃描測量。
實時數(shù)據(jù)分析：儀器內(nèi)置數(shù)據(jù)分析軟件,，能夠實時顯示測量結果,，并提供多種數(shù)據(jù)處理功能。
多種測量范圍：適用于不同厚度范圍的薄膜測量，從納米級到微米級,。
用戶友好界面：配備大屏幕液晶顯示屏,，操作界面直觀易用。
數(shù)據(jù)存儲與輸出：可以存儲大量測量數(shù)據(jù),，并通過USB接口將數(shù)據(jù)傳輸?shù)接嬎銠C進行進一步分析,。
多種語言支持：支持多種語言顯示，包括英語,、日語,、中文等。

四,、技術規(guī)格

測量范圍：納米級至微米級（具體范圍取決于薄膜材料和測量條件）,。
測量精度：亞納米級別。
測量速度：快速測量,，適合高通量檢測,。
光源：激光光源，波長可根據(jù)測量需求選擇,。
測量模式：單點測量,、多點測量、掃描測量,。
數(shù)據(jù)存儲：可存儲大量測量數(shù)據(jù),。
數(shù)據(jù)輸出：USB接口，支持數(shù)據(jù)傳輸?shù)接嬎銠C,。
電源：交流電源適配器,。
尺寸：緊湊型設計，便于實驗室和現(xiàn)場使用,。
重量：輕便,，便于攜帶。

五,、應用領域

半導體行業(yè)：用于測量半導體薄膜的厚度,，如硅片上的氧化層、金屬層等,。
電子行業(yè)：用于測量電子元件上的薄膜厚度,，如電容、電阻等,。
光學行業(yè)：用于測量光學薄膜的厚度,，如反射膜、增透膜等,。
材料科學：用于研究新型薄膜材料的厚度和性能,。
科研領域：用于實驗室研究和開發(fā)中的薄膜厚度測量,。

六、操作步驟

準備樣品：將待測樣品放置在測量平臺上,，確保樣品表面平整,。
開機：連接電源并打開儀器，進行自檢和初始化,。
設置參數(shù)：根據(jù)樣品的性質和測量需求,，設置測量模式、光源波長等參數(shù),。
開始測量：將激光對準樣品表面,，按下測量鍵,，儀器自動進行測量,。
讀取結果：測量完成后，儀器會顯示薄膜的厚度和相關數(shù)據(jù),。
數(shù)據(jù)存儲與輸出：將測量結果存儲到儀器中,，或通過USB接口傳輸?shù)接嬎銠C進行進一步分析。

七,、優(yōu)勢

高精度：采用光學干涉法,，測量精度高，重復性好,。
非接觸式測量：無需接觸樣品,，避免對樣品造成損傷。
多功能：支持多種測量模式和數(shù)據(jù)處理功能,，滿足不同用戶的需求,。
便攜性：體積小、重量輕,，便于攜帶和現(xiàn)場使用,。
操作簡便：界面友好，操作簡單,，易于上手,。
實時數(shù)據(jù)分析：內(nèi)置數(shù)據(jù)分析軟件，能夠實時顯示測量結果并提供多種數(shù)據(jù)處理功能,。

八,、附件

標準配件：主機、測量平臺,、電源適配器,、USB數(shù)據(jù)線、使用說明書等,。
可選配件：專用軟件,、校準片等,。

九、維護與保養(yǎng)

清潔：定期清潔光學鏡頭和測量平臺,，避免灰塵和污漬影響測量結果,。
校準：定期使用標準校準片進行校準，確保儀器測量準確,。
存儲：存放于干燥,、清潔的環(huán)境中，避免高溫,、潮濕和強磁場,。

Sanko-Denshi膜厚計SWT-NEO以其高精度、非接觸式測量和多功能性,，成為薄膜厚度測量的理想工具,，廣泛應用于半導體、電子,、光學和材料科學等領域,。