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ae-mic/AE-162D 用于超高速芯片電阻測試特征,?

時間:2023/12/6閱讀:451
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AE-162D 用于超高速芯片電阻測試


非常適合 D,、F,、G,、J、K 級,、片式,、MELF,、

徑向和軸向電阻器的分選機和編帶機,。


由于模擬部分與數(shù)字部分的隔離提高了抗噪性,,因此穩(wěn)定性高

兼容極小芯片(低功耗測量)

超高速0.7msec.(典型值)

熱電動勢抵消測量帶來高精度和穩(wěn)定性

通過每個量程的測量值積分時間設置功能,實現(xiàn)超高速和高穩(wěn)定性測量,。

%測量:±99.99% [5mΩ ~ 109MΩ]

絕對測量:0.00mΩ~200.00MΩ

接觸檢查:測量前/測量后/關閉可選

RS-232C接口標準設備(GP-IB可選)

打印機輸出標準設備(Centronics兼容)

標準設置值傳輸功能:(相同的設置數(shù)據(jù)可以傳輸?shù)搅硪慌_AE-162D以進行自動設置,。)

標準配備測量電流/測量電壓異常檢查電路


測量范圍和基本精度(環(huán)境溫度23℃±5℃),校準后180天[校準后1年:1.5倍]
測量范圍標準值設定范圍測量電流測量精度*
慢的快速地
100毫歐5mΩ~100mΩ100毫安±0.02%±2a±2d以內±0.03%±3a±2d±[2/(1+n)]d以內
100.1mΩ~1Ω100毫安±0.02%±a±1d以內±0.02%±a±2d±[2/(1+n)]d以內
10Ω1.001Ω~10Ω50毫安
100Ω10.01Ω~100Ω10毫安±0.02%±1d以內±0.02%±2d±[1/(1+n)]d以內
1kΩ100.1Ω~1kΩ5毫安
10kΩ1.001kΩ~10kΩ0.5毫安
100kΩ10.01kΩ~100kΩ50μA
1兆歐100.1kΩ~1MΩ5μA±0.05%±2d±[1/(1+n)]d以內
10兆歐1.001MΩ~10MΩ0.5μA±0.03%±1d以內±0.2%±4d±[1/(1+n)]d以內
100兆歐10.01MΩ~109MΩ0.05μA±0.1%±2d以內────
* d = 位數(shù),n = 積分時間(毫秒),,% 測量:α =(100/標準設定值 mΩ)x 0.01%,絕對值測量:α = 0(加上 ±1d) *
屏蔽時的完整精度
測量時間外部啟動自由奔跑
慢的快速地慢的快速地
約18毫秒~400毫秒約0.7毫秒~400毫秒約30次/秒~
約2次/秒
約 60 次/秒至
約 2 次/秒
測量端子開路電壓15V以下
測量結束信號(EOC)脈沖寬度1~250msec.可連續(xù)設定
測量方法4端測量/2端測量可切換
判斷值設定范圍%測量:±99.99%,絕對值測量:00000至20000
周邊環(huán)境溫度:0°C 至 +50°C,,濕度:80% 或更低
所需電源AC85V至265V,,50Hz至60Hz,約50VA
外形尺寸333(寬)×99(高)×300(深)mm(不包括橡膠腳等突出物)
重量約3.5公斤
選項?GP-IB
?數(shù)據(jù)傳輸線
?短路端接(零歐姆標準電阻)
?轉換適配器(3P×2?5P)


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