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東莞市德祥儀器有限公司
中級(jí)會(huì)員 | 第4年

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電子設(shè)備老化測(cè)試紫外線老化試驗(yàn)箱

參  考  價(jià):27800 - 29800 /臺(tái)
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 型號(hào)

    DX-H302-1L

  • 品牌

    DR/德瑞儀器

  • 廠商性質(zhì)

    生產(chǎn)商

  • 所在地

    東莞市

更新時(shí)間:2025-06-11 20:28:40瀏覽次數(shù):280次

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產(chǎn)地類別 國(guó)產(chǎn) 光照溫度范圍 RT常溫~+80℃
黑板溫度范圍 +50~+70℃ 價(jià)格區(qū)間 1萬(wàn)-5萬(wàn)
類型 紫外老化箱 試驗(yàn)箱空間(LxWxH) W1170×H500×D450mm
外形尺寸(L×W×H) W1480×H1500×D550mm 應(yīng)用領(lǐng)域 環(huán)保,電子/電池,汽車及零部件,電氣
紫外波長(zhǎng) 315~400nmmm
電子設(shè)備老化測(cè)試紫外線老化試驗(yàn)箱是一種專門用于測(cè)試電子設(shè)備及其組件(如顯示屏,、電路板、外殼材料等)在紫外線輻射下的老化性能的實(shí)驗(yàn)設(shè)備,。電子設(shè)備在日常使用中暴露于光照,、紫外線等環(huán)境因素,可能導(dǎo)致外部材料褪色、變脆,、發(fā)黃,,甚至影響內(nèi)部元件的性能。紫外線老化試驗(yàn)箱通過(guò)模擬紫外線照射環(huán)境,,幫助評(píng)估電子設(shè)備在不同紫外線條件下的耐久性,、可靠性和長(zhǎng)期使用表現(xiàn)。

電子設(shè)備老化測(cè)試紫外線老化試驗(yàn)箱是一種專門用于測(cè)試電子設(shè)備及其組件(如顯示屏,、電路板,、外殼材料等)在紫外線輻射下的老化性能的實(shí)驗(yàn)設(shè)備。電子設(shè)備在日常使用中暴露于光照,、紫外線等環(huán)境因素,,可能導(dǎo)致外部材料褪色、變脆,、發(fā)黃,,甚至影響內(nèi)部元件的性能。紫外線老化試驗(yàn)箱通過(guò)模擬紫外線照射環(huán)境,,幫助評(píng)估電子設(shè)備在不同紫外線條件下的耐久性,、可靠性和長(zhǎng)期使用表現(xiàn)。

紫外線老化試驗(yàn)箱的工作原理

紫外線老化試驗(yàn)箱通過(guò)模擬太陽(yáng)光中的紫外線輻射來(lái)加速電子設(shè)備的老化過(guò)程,。其主要功能和工作原理如下:

  1. 紫外線輻射源:試驗(yàn)箱配有紫外線燈管(通常是UVA,、UVB波段),這些燈管能模擬太陽(yáng)光中的紫外線輻射,。紫外線的輻射強(qiáng)度和波長(zhǎng)可以調(diào)節(jié),,以模擬不同環(huán)境下的紫外線照射。

  2. 溫濕度控制:紫外線輻射通常與溫度和濕度共同作用影響電子設(shè)備的老化過(guò)程,。因此,,紫外線老化試驗(yàn)箱通常配有溫濕度控制系統(tǒng),能夠模擬高溫,、濕度等環(huán)境條件,。這些條件有助于測(cè)試設(shè)備在不同氣候環(huán)境下的耐久性。

  3. 氣流系統(tǒng):試驗(yàn)箱內(nèi)部通常配有空氣循環(huán)系統(tǒng),,用于均勻分布紫外線輻射和溫濕度條件,,避免局部過(guò)熱或紫外線不均勻的問(wèn)題。這樣可以確保測(cè)試的每一部分都在相同的環(huán)境下進(jìn)行,。

  4. 試樣架:設(shè)備內(nèi)部有多個(gè)試樣架,,可以容納多個(gè)電子設(shè)備或其組件(如外殼、顯示屏,、傳感器等),。試樣架可以調(diào)節(jié)位置,,確保樣品在紫外線照射下充分暴露。

  5. 自動(dòng)化控制系統(tǒng):紫外線老化試驗(yàn)箱通常配備PLC控制系統(tǒng),,具有自動(dòng)化的操作界面,,可以設(shè)置紫外線強(qiáng)度、溫度,、濕度,、試驗(yàn)時(shí)間等參數(shù)。測(cè)試過(guò)程中的所有數(shù)據(jù)都會(huì)記錄并生成報(bào)告,,方便后期分析,。

電子設(shè)備老化測(cè)試的主要目的

  1. 評(píng)估外殼材料的耐紫外線性能:電子設(shè)備外殼通常由塑料、金屬,、復(fù)合材料等制成,,這些材料在紫外線照射下可能會(huì)褪色、變脆,、裂開(kāi)或變形,。通過(guò)紫外線老化試驗(yàn),可以評(píng)估不同材料在紫外線輻射下的耐久性,,選擇更合適的材料,。

  2. 測(cè)試顯示屏的耐紫外線性能:電子設(shè)備如手機(jī)、電視,、顯示器等的顯示屏可能因紫外線輻射而出現(xiàn)褪色或變色,,甚至影響顯示效果。紫外線老化試驗(yàn)箱可以幫助測(cè)試顯示屏的紫外線抗性,,確保其在長(zhǎng)期使用中的穩(wěn)定性,。

  3. 檢測(cè)電路板及電子元件的老化:紫外線輻射可能會(huì)對(duì)電路板的保護(hù)層、電子元件的表面造成影響,,導(dǎo)致氧化,、腐蝕等問(wèn)題,。通過(guò)紫外線老化試驗(yàn),,可以評(píng)估這些組件的紫外線耐受性,確保其長(zhǎng)期工作中的可靠性,。

  4. 分析電子設(shè)備的整體耐久性:在一些環(huán)境中,,電子設(shè)備長(zhǎng)時(shí)間暴露在陽(yáng)光下,尤其是戶外使用的設(shè)備,,其紫外線輻射可能會(huì)加速老化,。紫外線老化試驗(yàn)可以模擬這些環(huán)境,幫助開(kāi)發(fā)商了解設(shè)備的長(zhǎng)期使用性能和老化程度,。

紫外線老化試驗(yàn)箱的主要測(cè)試項(xiàng)目

  1. 褪色與變色測(cè)試:測(cè)試電子設(shè)備外殼,、顯示屏等部件是否在紫外線照射下發(fā)生褪色或變色,,尤其是顯示器、指示燈等易受到紫外線影響的部件,。

  2. 表面裂紋與脆化測(cè)試:電子設(shè)備的外殼材料,、塑料組件等可能在紫外線照射下變脆、產(chǎn)生裂紋,。紫外線老化試驗(yàn)箱通過(guò)高強(qiáng)度的紫外線輻射模擬長(zhǎng)期使用中的老化效果,,評(píng)估材料的抗紫外線能力。

  3. 電氣性能測(cè)試:測(cè)試電子元件,、接線、焊接點(diǎn)等在紫外線輻射作用下是否發(fā)生變化,,如電氣性能是否下降,,是否出現(xiàn)短路或接觸不良等問(wèn)題。

  4. 熱老化與材料性能測(cè)試:紫外線照射常伴隨高溫和濕度,,可能對(duì)設(shè)備的性能造成進(jìn)一步影響,。通過(guò)模擬這些環(huán)境,可以測(cè)試電子設(shè)備在惡劣條件下的性能表現(xiàn),,如屏幕顯示效果,、按鈕反應(yīng)、接口穩(wěn)定性等,。

  5. 長(zhǎng)期可靠性測(cè)試:通過(guò)對(duì)電子設(shè)備進(jìn)行加速老化測(cè)試,,預(yù)測(cè)設(shè)備在實(shí)際應(yīng)用中的壽命表現(xiàn),,幫助開(kāi)發(fā)商改進(jìn)產(chǎn)品設(shè)計(jì),,選擇更適合的材料,,延長(zhǎng)設(shè)備的使用壽命,。

選擇電子設(shè)備老化測(cè)試紫外線老化試驗(yàn)箱時(shí)的注意事項(xiàng)

  1. 紫外線輻射波長(zhǎng)和強(qiáng)度:紫外線老化試驗(yàn)箱應(yīng)具有調(diào)節(jié)紫外線波長(zhǎng)(如UVA、UVB)和強(qiáng)度的功能,,以確保模擬不同環(huán)境條件下的紫外線照射,。

  2. 溫濕度控制范圍和精度:溫濕度對(duì)測(cè)試結(jié)果有顯著影響,,因此紫外線老化試驗(yàn)箱需要提供精確的溫濕度控制系統(tǒng),,確保測(cè)試環(huán)境的穩(wěn)定性。

  3. 設(shè)備的安全性:由于紫外線輻射可能對(duì)人體造成傷害,,因此試驗(yàn)箱應(yīng)配備紫外線防護(hù)裝置,,避免輻射泄漏,。此外,還應(yīng)具備過(guò)熱保護(hù),、超溫報(bào)警等安全功能,。

  4. 試驗(yàn)時(shí)間和數(shù)據(jù)記錄:不同的電子設(shè)備可能需要不同的老化測(cè)試時(shí)間,紫外線老化試驗(yàn)箱應(yīng)支持長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行,,并能記錄測(cè)試過(guò)程中的溫濕度,、紫外線強(qiáng)度等數(shù)據(jù),生成詳細(xì)的測(cè)試報(bào)告,。

  5. 操作簡(jiǎn)便性與自動(dòng)化程度:現(xiàn)代紫外線老化試驗(yàn)箱通常配備智能化操作界面,,支持自動(dòng)化控制和遠(yuǎn)程監(jiān)控,操作簡(jiǎn)單方便,,適合生產(chǎn)線和實(shí)驗(yàn)室的批量測(cè)試,。

總結(jié)

紫外線老化試驗(yàn)箱在電子設(shè)備的研發(fā)、質(zhì)量控制和可靠性測(cè)試中扮演著重要角色,。它通過(guò)模擬紫外線輻射對(duì)電子設(shè)備外殼,、顯示屏、電路板等組件進(jìn)行加速老化測(cè)試,,幫助生產(chǎn)商評(píng)估設(shè)備的耐久性,、可靠性和長(zhǎng)期使用表現(xiàn)。選擇合適的紫外線老化試驗(yàn)箱能夠?yàn)殡娮赢a(chǎn)品的質(zhì)量提升,、創(chuàng)新設(shè)計(jì)以及市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力提供有力支持,。


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