您好, 歡迎來(lái)到化工儀器網(wǎng),! 登錄| 免費(fèi)注冊(cè)| 產(chǎn)品展廳| 收藏商鋪|
當(dāng)前位置:東莞市德祥儀器有限公司>>氙燈紫外線耐候試驗(yàn)箱>>QUV紫外線耐候試驗(yàn)箱>> DX-H302I電子電器外殼紫外老化試驗(yàn)箱
DX-H302I
DR/德瑞儀器
生產(chǎn)商
東莞市
更新時(shí)間:2024-12-06 10:40:49瀏覽次數(shù):293次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來(lái)自 化工儀器網(wǎng)產(chǎn)地類(lèi)別 | 國(guó)產(chǎn) | 光照溫度范圍 | RT常溫~+80℃ |
---|---|---|---|
黑板溫度范圍 | +50~+70℃ | 價(jià)格區(qū)間 | 1萬(wàn)-5萬(wàn) |
類(lèi)型 | 紫外老化箱 | 試驗(yàn)箱空間(LxWxH) | W1170×H500×D450mm |
外形尺寸(L×W×H) | W1480×H1500×D550mm | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,電子/電池,汽車(chē)及零部件,電氣 |
紫外波長(zhǎng) | 315~400nmmm |
電子電器外殼紫外老化試驗(yàn)箱是一種專(zhuān)門(mén)用于模擬電子電器外殼在長(zhǎng)時(shí)間暴露于紫外線,、溫濕度變化等環(huán)境因素下的老化過(guò)程的測(cè)試設(shè)備,。通過(guò)加速紫外線照射、溫濕度循環(huán)等環(huán)境條件,,試驗(yàn)箱可以有效模擬電子產(chǎn)品外殼在實(shí)際使用中的老化情況,,幫助評(píng)估其耐紫外線、耐候性,、外觀變化(如褪色,、變脆)以及機(jī)械性能的衰退。
紫外線輻射模擬:
通過(guò)紫外線燈管(如UV-A或UV-B)模擬太陽(yáng)輻射對(duì)電子電器外殼材料的影響,,測(cè)試材料在紫外線照射下的褪色,、變色、開(kāi)裂,、脆化等現(xiàn)象,。
溫濕度控制:
試驗(yàn)箱可以模擬各種環(huán)境溫濕度條件,溫度通??烧{(diào)在-10℃至80℃范圍,,濕度可調(diào)范圍為30%RH至98%RH,模擬不同氣候條件下電子外殼的變化,。
濕干循環(huán):
模擬材料暴露于雨水與干燥環(huán)境交替變化的影響,,測(cè)試電子電器外殼在濕潤(rùn)和干燥條件下的老化過(guò)程。
加速老化過(guò)程:
通過(guò)調(diào)節(jié)紫外線照射強(qiáng)度,、溫濕度等因素,,縮短實(shí)際使用壽命的測(cè)試時(shí)間,快速評(píng)估材料的耐用性和耐紫外線性能,。
自動(dòng)控制與數(shù)據(jù)記錄:
具備自動(dòng)控制系統(tǒng),,能夠?qū)崟r(shí)監(jiān)控試驗(yàn)過(guò)程中的溫濕度、紫外線強(qiáng)度等參數(shù),,自動(dòng)記錄實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù),,便于分析和報(bào)告生成。
UV-A / UV-B紫外燈管:模擬不同波長(zhǎng)的紫外線輻射,,符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn),,如ASTM G154或ISO 4892等。
高效溫濕度控制系統(tǒng):高精度的溫濕度調(diào)節(jié)系統(tǒng),,確保環(huán)境條件的準(zhǔn)確控制,。
多功能濕干循環(huán)系統(tǒng):能夠模擬多種氣候條件下的濕潤(rùn)、干燥交替環(huán)境,。
耐高溫設(shè)計(jì):設(shè)備通常采用耐高溫材料制造,,保證長(zhǎng)時(shí)間高強(qiáng)度紫外線照射時(shí)的穩(wěn)定性。
安全性:具備過(guò)熱保護(hù),、超溫保護(hù)等安全設(shè)計(jì),,確保設(shè)備長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行時(shí)的安全,。
電子電器外殼材料檢測(cè):用于塑料、金屬,、涂層等外殼材料的紫外老化測(cè)試,,確保其在戶外環(huán)境下的使用壽命。
家電行業(yè):如電視機(jī)外殼,、空調(diào)外殼,、電風(fēng)扇外殼、冰箱外殼等家電產(chǎn)品的紫外線耐受性檢測(cè),。
汽車(chē)電子外殼:汽車(chē)內(nèi)部和外部的塑料件(如儀表盤(pán)外殼,、燈具外殼等)在紫外線輻射下的老化測(cè)試。
塑料與涂料行業(yè):用于測(cè)試塑料,、涂層,、油墨等材料在紫外線下的耐久性。
ISO 4892(塑料材料紫外線光照加速老化測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)方法)
ASTM G154(紫外線加速老化和光照耐久性測(cè)試)
ASTM G155(紫外線老化測(cè)試的標(biāo)準(zhǔn)方法)
電子電器外殼紫外老化試驗(yàn)箱是一個(gè)關(guān)鍵的質(zhì)量檢測(cè)設(shè)備,,廣泛應(yīng)用于電子產(chǎn)品,、家電行業(yè)、汽車(chē)行業(yè)及材料科學(xué)領(lǐng)域,。通過(guò)模擬紫外線輻射,、溫濕度變化等環(huán)境因素,測(cè)試外殼材料在戶外環(huán)境中的老化情況,,為產(chǎn)品的耐用性評(píng)估提供科學(xué)依據(jù),,確保電子電器產(chǎn)品在長(zhǎng)期使用中能夠保持良好的外觀和性能。
請(qǐng)輸入賬號(hào)
請(qǐng)輸入密碼
請(qǐng)輸驗(yàn)證碼
以上信息由企業(yè)自行提供,信息內(nèi)容的真實(shí)性,、準(zhǔn)確性和合法性由相關(guān)企業(yè)負(fù)責(zé),,化工儀器網(wǎng)對(duì)此不承擔(dān)任何保證責(zé)任。
溫馨提示:為規(guī)避購(gòu)買(mǎi)風(fēng)險(xiǎn),,建議您在購(gòu)買(mǎi)產(chǎn)品前務(wù)必確認(rèn)供應(yīng)商資質(zhì)及產(chǎn)品質(zhì)量。