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貨物所在地:浙江杭州市
更新時(shí)間:2024-12-14 21:00:07
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HR-AFM快速掃描探針顯微鏡是一款專業(yè)級(jí)的高分辨率原子力顯微鏡,Z軸噪音低于35皮米,。該設(shè)備可以在不破壞樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的情況下觀測(cè)樣品微區(qū)三維形貌和多相結(jié)構(gòu),;同時(shí)可對(duì)樣品表面物理化學(xué)特性進(jìn)行研究,數(shù)值測(cè)定與分析,。
國(guó)內(nèi)生產(chǎn)的HR-AFM原子力顯微鏡
標(biāo)準(zhǔn)工作模式:輕敲模式(Vibration mode),,接觸模式 (Contact mode),相位成像模式 (Phase imaging),,橫向力模式 (LFM),,力曲線測(cè)試(Force Curve),納米操控 (Nanomanipulation),,納米刻蝕 (Nanolithography),,力矩陣模式 (Force Mapping),摩擦力測(cè)試 (Friction Mode)
可選工作模式:導(dǎo)電原子力顯微鏡 (C-AFM),,磁力顯微鏡(MFM),靜電力顯微鏡(EFM),掃描電勢(shì)顯微鏡(SKPM),。
快速掃描探針顯微鏡具有軟件自動(dòng)進(jìn)針功能,。通過(guò)軟件控制Z方向馬達(dá)實(shí)現(xiàn)探針自動(dòng)進(jìn)針
X,Y,Z三軸分離的掃描器。
掃描范圍 100×100×17μm
Z軸分辨率0.035nm
樣品臺(tái)尺寸:25mm*25mm*18mm
操作軟件:使用Laview環(huán)境語(yǔ)言控制,,免費(fèi)提供操作軟件,,并提供維護(hù)及升級(jí)
提供Gwyddion IMAGE ANALYSIS SOFTWARE 數(shù)據(jù)分析系統(tǒng)
頂視系統(tǒng)光學(xué)分辨率≤2微米
視場(chǎng)范圍從2mm*2mm到300um*300um可調(diào),放大倍率從45倍到400倍機(jī)械可調(diào)
側(cè)視系統(tǒng),,提供可視化下針,,可以通過(guò)電腦精確觀察控制下針過(guò)程,防止撞針
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)