無錫冠亞恒溫制冷技術(shù)有限公司的半導體控溫解決方案

主要產(chǎn)品包括半導體專?溫控設備,、射流式?低溫沖擊測試機和半導體??藝廢?處理裝置等?設備，

?泛應?于半導體,、LED、LCD,、太陽能光伏等領域,。

【 冠亞制冷 】半導體行業(yè)主營控溫產(chǎn)品：

半導體專溫控設備

射流式?低溫沖擊測試機

半導體專用溫控設備chiller

Chiller氣體降溫控溫系統(tǒng)

Chiller直冷型

循環(huán)風控溫裝置

半導體?低溫測試設備

電?設備?溫低溫恒溫測試冷熱源

射流式高低溫沖擊測試機

快速溫變控溫卡盤

數(shù)據(jù)中心液冷解決方案

-80℃射流高低溫沖擊測試機 循環(huán)風控溫裝置

-80℃射流高低溫沖擊測試機 循環(huán)風控溫裝置

射流式高低溫沖擊測試機給芯片,、模塊,、集成電路板、電子元器件等提供精確且快速的環(huán)境溫度,。

是對產(chǎn)品電性能測試,、失效分析、可靠性評估的儀器設備,。

溫度控制范圍：-120℃ 至+300℃,，升降溫速率?常快速,，150℃?-55℃＜10秒,，zui??流量：30m3/h；

實時監(jiān)控被測IC真實溫度,實現(xiàn)閉環(huán)反饋,，實時調(diào)整?體溫度升降溫時間可控,，程序化操作,、?動操作、遠程控制

　　冷熱循環(huán)沖擊測試機是用于測試集成電路在不同溫度下的性能和穩(wěn)定性的設備,，在選購冷熱循環(huán)沖擊測試機時,，需要考慮以下幾個方面：

　　1、測試溫度范圍：根據(jù)需要測試的集成電路的類型和規(guī)格,，確定所需的測試溫度范圍,。一般來說，冷熱循環(huán)沖擊測試機的溫度范圍應該在-120℃到200℃之間,，以滿足大多數(shù)半導體的測試需求,。

　　2、溫度穩(wěn)定性：溫度穩(wěn)定性是測試系統(tǒng)的重要指標之一,。冷熱循環(huán)沖擊測試機的溫度穩(wěn)定性應該足夠高,，以保證測試結(jié)果的準確性和可靠性。一般來說,，溫度波動范圍應該在±1℃以內(nèi),。

　　3、測試速度：測試速度也是需要考慮的因素之一,。冷熱循環(huán)沖擊測試機的測試速度應該足夠快,，以減少測試時間和提升效率。一般來說,，冷熱循環(huán)沖擊測試機測試速度應該在每小時測試數(shù)百個樣品以上,。

　　4、測試精度：冷熱循環(huán)沖擊測試機的測試精度應該足夠高,，以保證測試結(jié)果的準確性和可靠性,。一般來說，測試誤差應該在±1℃以內(nèi),。