產(chǎn)地類別 |
國產(chǎn) |
價(jià)格區(qū)間 |
面議 |
應(yīng)用領(lǐng)域 |
化工,電子,制藥 |
半導(dǎo)體芯片高低溫測試機(jī),,制冷加熱循環(huán)器的典型應(yīng)用:
適用于電子元器件的溫度控制需求,。 在用于惡劣環(huán)境的半導(dǎo)體電子元件的制造中,IC封裝組裝和工程和生產(chǎn)的測試階段包括在溫度(-45℃至+ 250℃)下的電子冷熱測試和其他環(huán)境測試模擬,。
半導(dǎo)體芯片高低溫測試機(jī),,制冷加熱循環(huán)器
主要用于半導(dǎo)體測試中的溫度測試模擬,具有寬溫度定向和高溫升降,,溫度范圍-92℃~250℃,,適合各種測試要求.LNEYA致力于解決了電子元器件中溫度控制滯后的問題,超高溫冷卻技術(shù)可以直接從300℃冷卻。
半導(dǎo)體芯片高低溫測試機(jī),,制冷加熱循環(huán)器
無錫冠亞芯片高低溫測試機(jī)是針對電子元器件行業(yè)測試所推出的,那么,,這類芯片高低溫測試機(jī)適用于那些行業(yè)呢,?
經(jīng)過無錫冠亞的努力,其開發(fā)生產(chǎn)的芯片高低溫測試機(jī)TES-4525,、TES-4525W,、TES-4555、TES-4555W,、TES-45A10,、TES-45A10W、TES-45A15,、TES-45A25W,、TES-45A25、TES-45A25W等型號(hào)可以用于中小規(guī)模數(shù)字集成電路邏輯功能及靜態(tài)直流參數(shù)測試,,在微弱電流測試方面有良好的特性,;用于二管、三管,、VMOS,、光電搞合器、可控硅等各種半導(dǎo)體分立器件進(jìn)行參數(shù)測試,,測試原理符合國標(biāo)及軍標(biāo)要求,,功率參數(shù)采用300uS脈沖測試,并采用數(shù)據(jù),、圖形雙重顯示,。