電子芯片調(diào)試控溫高低溫控溫機組

電子芯片調(diào)試控溫高低溫控溫機組

電子芯片調(diào)試控溫高低溫控溫機組

　　隨著集成電路電性測試技術及要求的提高，有些芯片產(chǎn)品內(nèi)部集成了溫度傳感器,，同時測試程序中加入了溫度測試條目來實時準確的監(jiān)測在測芯片的實際溫度,。即使沒有集成溫度傳感器，現(xiàn)在的精研測試恒溫器測試技術也可以通過測量某些與溫度變化線性相關的精密二管的電壓變化,，通過一系列公式來計算出當前在測芯片的實際溫度,。

半導體溫度測試系統(tǒng)貫穿于芯片設計制造的整個過程，而之后的測試則是重中之重,，其測試良品率的高低與生產(chǎn)成本有直接關系,。無錫冠亞半導體溫度測試系統(tǒng)作為半導體器件測試廠家之一，為汽車,、消費,、工業(yè)、網(wǎng)絡和無線市場等用到半導體產(chǎn)品進行測試工作,。汽車芯片對測試的要求比較高,，一般都是三溫測試再加老化測試。近年來隨著半導體技術的飛速發(fā)展,，集成電路的精度越來越高,，對半導體測試設備的要求也越來越高。由普通的自動分選機所提供的溫度測試環(huán)境很不準確,，已經(jīng)不能滿足如今的要求,，無錫冠亞半導體溫度測試系統(tǒng)應運而生。

　　半導體溫度測試系統(tǒng)測試的設備及接口部分的硬件,，各部分硬件的連接關系以及溫度設置,。其次基于普通半導體溫度測試系統(tǒng)，通過流體熱力學的模擬仿真來優(yōu)化芯片測試時的溫度控制,，引入DTM概念,，在流體及溫度仿真的基礎上進一步完善改進，更加可靠準確的控制在測芯片的溫度并能很好的維持其穩(wěn)定性,，并且結(jié)合溫度控制蓋與DTM進一步提升了溫度控制水平，從而直接或間接提高測試良品率,。并通過流體仿真軟件來指導某些測試硬件的設計,，降低開發(fā)周期及成本。

實驗室試驗設備-電子芯片調(diào)試控溫高低溫控溫機組