電子芯片測試調(diào)試控溫高低溫控溫系統(tǒng)

電子芯片測試調(diào)試控溫高低溫控溫系統(tǒng)

電子芯片測試調(diào)試控溫高低溫控溫系統(tǒng)

芯片測試控溫系統(tǒng)發(fā)展背景

　　芯片測試控溫系統(tǒng)是伴隨著芯片行業(yè)不斷發(fā)展的，隨著半導(dǎo)體集成電路制造業(yè)的發(fā)展以及信息技術(shù)的不斷更新,，元器件行業(yè)也快速發(fā)展起來,，為此，無錫冠亞推出芯片測試控溫系統(tǒng),，針對芯片,、半導(dǎo)體、元器件行業(yè)的測試工作,。

　　隨著進(jìn)入高速發(fā)展的信息化時代,，其中以半導(dǎo)體集成電路（簡稱芯片）制造和信息技術(shù)為主要代表，尤其是近十幾年來汽車電子,，消費(fèi)電子等的快速發(fā)展與普及,，現(xiàn)在的人們已經(jīng)不能想象如果沒有汽車，電腦,，智能手機(jī)我們該如何進(jìn)行各種日常的工作及生活娛樂等活動,。這些主要?dú)w功于半導(dǎo)體集成電路技術(shù)的突飛猛進(jìn)，集成度越來越高,，功能越來越強(qiáng)大,，體積越來越小。

精研測試恒溫器發(fā)展現(xiàn)狀

　　無錫冠亞精研測試恒溫器是作為半導(dǎo)體,、芯片,、元器件等企業(yè)測試需要的設(shè)備之一，那么,，對于精研測試恒溫器發(fā)展現(xiàn)狀大家了解多少呢,？

　　隨著近年來半導(dǎo)體技術(shù)的發(fā)展和應(yīng)用場合的需求，對半導(dǎo)體集成電路的測試要求也越來越苛刻,，對測試環(huán)境及測試硬件的要求更是越來越嚴(yán)格,，準(zhǔn)確度要求越來越高。半導(dǎo)體的溫度測試就是其中之一,，精研測試恒溫器也是半導(dǎo)體行業(yè)很重要的業(yè)務(wù)之一,，一般情況下汽車所使用的半導(dǎo)體集成電路均需要精研測試恒溫器測試。一般情況下高溫測試溫度高達(dá)125℃，目前還在進(jìn)行更高溫的嘗試,；低溫測試溫度低至-45℃,。精研測試恒溫器則是一種半導(dǎo)體產(chǎn)品的疲勞測試，通過的設(shè)備對產(chǎn)品加電,，并施加幾小時至幾十小時的高溫,、高壓等外界條件，從而加速產(chǎn)品的失效時間,，這樣可以消除產(chǎn)品初期使用階段容易出現(xiàn)的高故障率,，從而保證交付客戶的產(chǎn)品處于穩(wěn)定可靠的工作階段。