芯片半導(dǎo)體調(diào)試測(cè)試高低溫設(shè)備

芯片半導(dǎo)體調(diào)試測(cè)試高低溫設(shè)備

芯片半導(dǎo)體調(diào)試測(cè)試高低溫設(shè)備

精研測(cè)試恒溫器發(fā)展現(xiàn)狀

　　無錫冠亞精研測(cè)試恒溫器是作為半導(dǎo)體,、芯片,、元器件等企業(yè)測(cè)試需要的設(shè)備之一，那么,，對(duì)于精研測(cè)試恒溫器發(fā)展現(xiàn)狀大家了解多少呢,？

　　隨著近年來半導(dǎo)體技術(shù)的發(fā)展和應(yīng)用場(chǎng)合的需求，對(duì)半導(dǎo)體集成電路的測(cè)試要求也越來越苛刻,，對(duì)測(cè)試環(huán)境及測(cè)試硬件的要求更是越來越嚴(yán)格,，準(zhǔn)確度要求越來越高。半導(dǎo)體的溫度測(cè)試就是其中之一,，精研測(cè)試恒溫器也是半導(dǎo)體行業(yè)很重要的業(yè)務(wù)之一,，一般情況下汽車所使用的半導(dǎo)體集成電路均需要精研測(cè)試恒溫器測(cè)試,。一般情況下高溫測(cè)試溫度高達(dá)125℃，目前還在進(jìn)行更高溫的嘗試,；低溫測(cè)試溫度低至-45℃,。精研測(cè)試恒溫器則是一種半導(dǎo)體產(chǎn)品的疲勞測(cè)試，通過的設(shè)備對(duì)產(chǎn)品加電,，并施加幾小時(shí)至幾十小時(shí)的高溫、高壓等外界條件,，從而加速產(chǎn)品的失效時(shí)間,，這樣可以消除產(chǎn)品初期使用階段容易出現(xiàn)的高故障率，從而保證交付客戶的產(chǎn)品處于穩(wěn)定可靠的工作階段,。

　　隨著集成電路電性測(cè)試技術(shù)及要求的提高,，有些芯片產(chǎn)品內(nèi)部集成了溫度傳感器，同時(shí)測(cè)試程序中加入了溫度測(cè)試條目來實(shí)時(shí)準(zhǔn)確的監(jiān)測(cè)在測(cè)芯片的實(shí)際溫度,。即使沒有集成溫度傳感器,，現(xiàn)在的精研測(cè)試恒溫器測(cè)試技術(shù)也可以通過測(cè)量某些與溫度變化線性相關(guān)的精密二管的電壓變化，通過一系列公式來計(jì)算出當(dāng)前在測(cè)芯片的實(shí)際溫度