冠亞制冷TES系列熱流儀-準(zhǔn)確控溫的高低溫循環(huán)測(cè)試系統(tǒng),，能夠準(zhǔn)確控制熱,、冷空氣，應(yīng)用在測(cè)試元器件,、混合電路,、模塊、PCB和裝配,。
高低溫循環(huán)測(cè)試系統(tǒng)采用單壓縮機(jī)技術(shù),，可適用于各類半導(dǎo)體芯片、閃存Flash/EMMC,、PCB電路板IC,、光通訊（如收發(fā)器transceiver 高低溫測(cè)試、SFP光模塊高低溫測(cè)試等）,、電子行業(yè)等進(jìn)行IC特性分析,、高低溫循環(huán)測(cè)試、溫度沖擊測(cè)試,、失效分析等可靠性試驗(yàn),。
高低溫循環(huán)測(cè)試系統(tǒng)產(chǎn)品應(yīng)用：
1、測(cè)試閃存Flash,、UFS,、eMMC 、PCBs,、MCMs,、MEMS、IGBT,、傳感器,、小型模塊組件；
2,、特性分析,；
3,、對(duì)設(shè)計(jì)的驗(yàn)證；
4,、失效分析,；
5、溫度沖擊測(cè)試 ,；
6,、高低溫溫變測(cè)試；
7,、對(duì)收發(fā)器 Transceiver 高低溫測(cè)試,、SFP光模塊高低溫測(cè)試；
8,、其它電子行業(yè),、航空航天新材料、實(shí)驗(yàn)室研究,。
高低溫循環(huán)測(cè)試系統(tǒng)是一款小型溫度測(cè)試系統(tǒng),，對(duì)所有類型的組件進(jìn)行溫度測(cè)試，例如傳感器,，光纖收發(fā)器和組件,，微波混合器，MCM,，PCB或其他類型的電子設(shè)備/非電子零件,。
高低溫循環(huán)測(cè)試系統(tǒng)用于溫度測(cè)試,，快速熱循環(huán),，和組分，混合,，模塊，電路板和其它電子和非電子組件設(shè)備溫度表征在準(zhǔn)確的溫度從-25℃~+200℃,。
高低溫循環(huán)測(cè)試系統(tǒng)可以放置在工程實(shí)驗(yàn)室中工作站測(cè)試臺(tái)的上方或下方,，也可以在生產(chǎn)測(cè)試臺(tái)上對(duì)齊，占地面積小,，用于您的溫度試驗(yàn)和熱調(diào)節(jié)的要求,。
