冠亞制冷高低溫沖擊測(cè)試系統(tǒng)與傳統(tǒng)的試驗(yàn)箱存在一定的差異，在工作原理以及產(chǎn)品特點(diǎn)都是不一樣的，具體有哪些呢,？

　　一、工作原理區(qū)別：

　　高低溫沖擊測(cè)試系統(tǒng)給芯片、模塊,、集成電路板、電子元器件等提供準(zhǔn)確且快速的環(huán)境溫度,。是對(duì)產(chǎn)品電性能測(cè)試,、失效分析、可靠性評(píng)估的儀器設(shè)備,。高低溫沖擊測(cè)試系統(tǒng)輸出氣流罩將被測(cè)試品罩住,，形成一個(gè)較密閉空間的測(cè)試腔，試驗(yàn)機(jī)輸出的高溫或低溫氣流,，使被測(cè)試品表面溫度發(fā)生劇烈變化,，從而完成相應(yīng)的高低溫沖擊試驗(yàn)；

　　制冷高低溫沖擊測(cè)試系統(tǒng)可針對(duì)眾多元器件中的某一單個(gè)IC或其它元件,，將其隔離出來(lái)單獨(dú)進(jìn)行高低溫沖擊,，而不影響周邊其它器件，與傳統(tǒng)冷熱沖擊試驗(yàn)箱相比,，溫變變化沖擊速率更快,。

　　二、產(chǎn)品特點(diǎn)區(qū)別：

　　高低溫沖擊測(cè)試系統(tǒng)采用流體溫度控制技術(shù),，機(jī)械制冷,，無(wú)需液氮，觸摸屏操作,，人機(jī)交互界面,，支持測(cè)試數(shù)據(jù)存儲(chǔ)，過(guò)熱溫度保護(hù),，加熱模式下,，冷凍機(jī)可切換成待機(jī)模式，以減少電力消耗,，干燥氣流持續(xù)吹掃測(cè)試表面,，防止水氣凝結(jié)。

　　高低溫沖擊測(cè)試系統(tǒng)變溫速率更快,，溫控精度：±1℃,，實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)待測(cè)元件真實(shí)溫度,，可隨時(shí)調(diào)整沖擊氣流溫度，對(duì)測(cè)試機(jī)平臺(tái)上的IC進(jìn)行溫度循環(huán)/沖擊,，傳統(tǒng)高低溫箱無(wú)法針對(duì)此類測(cè)試,，對(duì)整塊集成電路板提供準(zhǔn)確且快速的環(huán)境溫度。

冠亞制冷高低溫沖擊測(cè)試系統(tǒng)廣泛運(yùn)用在半導(dǎo)體制程中對(duì)反應(yīng)腔室控溫,、熱沉板控溫及需要傳熱介質(zhì)不可燃流體控溫場(chǎng)所,，適用于半導(dǎo)體芯片制造、芯片器件,、航空電子設(shè)備中的制冷加熱溫度控制,。