微處理器芯片測試裝置chiller適用于航空航天、電工電子,、儀器儀表,、材料設(shè)備、零部配件等模擬試件在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗及對電子元器件的安全性測試提供可靠性試驗,、產(chǎn)品研發(fā)等,，同時可通過此試驗，進行產(chǎn)品的質(zhì)量控制及新產(chǎn)品的研制等,。
一,、微處理器芯片測試裝置chiller工作原理：
試驗機輸出氣流將被測試品罩住，形成一個較密閉空間的測試腔,，試驗機輸出的高溫或低溫氣流,，使被測試品表面溫度發(fā)生劇烈變化，從而完成相應(yīng)的高低溫沖擊試驗,。
二,、對比傳統(tǒng)溫箱，微處理器芯片測試裝置chiller特點：
1,、高低溫溫度范圍在-85~250°C，控溫精度±0.5°C,。
2,、采用氣動控制，轉(zhuǎn)換時間短,，溫變速度快,，設(shè)備整體結(jié)構(gòu)緊湊，體積小,，提高了工作室的溫度均勻性,。
3、微處理器芯片測試裝置chiller升降速率非?？焖?，升降溫時間可控，程序化操作、手動操作,、遠程控制,。
4,、超大觸摸屏操作,，外觀簡潔大方,，操作簡單方便,，設(shè)定值實際值實時顯示,；
5,、測試條件：環(huán)境溫度20°C，10~30m3/h,，5~7Bar,，干燥壓縮空氣或者氮氣,。
