隨著行業(yè)內(nèi)芯片以及集成電路的不斷發(fā)展,，其芯片高低溫測試機也得到了不斷運用，那么,，芯片高低溫測試機的設(shè)計在什么前提之下呢,？
為了測試集成電路芯片成品，芯片高低溫測試機適合針對某一系列芯片研發(fā)的測試使用,，避免了功能性冗余浪費,。在測試方面，能夠直接連接芯片的測試引腳,，直接測試,；也可以通過非接觸式近距離感應(yīng)測試。工業(yè)使用結(jié)果表明：系統(tǒng)能夠準確地測試芯片性能,，具有測試效率高,、使用便捷的特點。
隨著國內(nèi)芯片行業(yè)的興由成長,，芯片高低溫測試機是一種通過控溫系統(tǒng)控制進行器件,、電路板和子系統(tǒng)等測試的設(shè)備,。目前，通常使用UF200測試探針臺＋VSO帶測試模塊的測試系統(tǒng)來測試RF芯片,，其高集成性幾乎囊括多種頻段的芯片模塊。問題是,，這種系統(tǒng)的高集成測試功能會造成性能浪費以及操作設(shè)置的復(fù)雜化,。為了降低測試成本，滿足企業(yè)單獨研發(fā)某一系列的芯片生產(chǎn)過程以及成品測試需要,，研發(fā)一款測試系統(tǒng),，實現(xiàn)單一系列芯片的功能測試，具有重要的實際意義,。
該芯片高低溫測試機測試系統(tǒng)的開發(fā)背景是某款芯片的成品測試需要,，以及設(shè)計的芯片有許多的特殊設(shè)計指令，如送測試芯片公
司,，則需要在標準的測試設(shè)備做一些兼容性的修改,，十分繁冗；對于測試公司,，改過之后,，會對其他測試單元有影響。該測試系統(tǒng)*采用國內(nèi)半自動測試臺配置測試系統(tǒng)進行芯片測試,。
芯片高低溫測試機的設(shè)計是根據(jù)芯片測試發(fā)展需求來制定的,，因此，無錫冠亞芯片高低溫測試機也基本符合目前芯片測試行業(yè)的需求,，也歡迎各位用戶前來洽談,。
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