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當(dāng)前位置:> 供求商機(jī)> A1\C\D\M1-磁粉探傷靈敏度試片
貨物所在地:山東濟(jì)寧市
更新時(shí)間:2024-08-25 21:00:07
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A1型 磁粉探傷標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片
簡(jiǎn) 介:
A型靈敏度試片由日本無(wú)損檢測(cè)學(xué)會(huì)提出,,以后為多個(gè)國(guó)家使用,主要用于零部件的磁粉探傷,,在檢查中,,對(duì)幾何形狀復(fù)雜,不同材質(zhì)的工作,,可以正確地選擇磁化規(guī)范,,并可檢查探傷設(shè)備,磁粉和磁懸液的性能,在磁粉探傷操作過(guò)程中,,可以避免漏檢,,正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向,,并對(duì)顯示缺陷的磁場(chǎng)強(qiáng)度有所估量A型靈敏度試片是磁粉探傷工作者的調(diào)試工具,。
特 點(diǎn):
試片用于磁粉顯示,圖象直觀,,使用簡(jiǎn)便,。對(duì)各類(lèi)零件所有方向的磁場(chǎng),尤其檢查形狀復(fù)雜的零件時(shí),,表現(xiàn)其的優(yōu)點(diǎn),。
性能規(guī)格:
A型標(biāo)準(zhǔn)試片分為A1、A2,;A1為退火材料制成,,A2為不作熱處理的冷軋材料制成。本試片按JB4730-2005標(biāo)準(zhǔn)特別注明A1試片,,與日本JISG0565-6標(biāo)準(zhǔn)和美國(guó)ASME SE709標(biāo)準(zhǔn)相對(duì)應(yīng),。本試片為A1 (15/50μ)標(biāo)準(zhǔn)試片。相當(dāng)于A1型試片中2# (30/100μ)標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片,,規(guī)格為(8-9)D,;適用于中靈敏度探傷,其中括號(hào)中分子為槽深,,分母為試片厚度,,單位為(微米),D為工件直徑,。
本套試片包括:
1# 15/100μ
2# 30/100μ
3# 60/100μ
4# 7/50μ
5# 15/50μ
6# 30/50μ
共六片不同規(guī)格的試片組成
使用方法:
1,、標(biāo)準(zhǔn)試片適宜于連續(xù)磁化法,使用時(shí)應(yīng)選適當(dāng)靈敏度的試片,,將刻有槽的一面朝向工件,,用膠帶紙緊密地貼上,保證試片與被檢面接觸良好,,膠帶紙貼于試片兩邊緣,,不能覆蓋試片背面的刻槽部位。
2,、進(jìn)行外加懸場(chǎng)法,,對(duì)工件進(jìn)行磁化,并在試片上澆以磁懸液或噴磁粉(磁化規(guī)范由低檔逐提高,,以顯示磁痕為界,,即是磁化電流)。上述步驟完畢后,貼在工件表面上的試片,,即可清楚顯示磁痕,。
注意事項(xiàng):
1、試片使用前,,用柔軟紙或紗布輕輕地把試片表面的油漬擦去,,再用膠帶紙緊密地貼在工件上,保證試片與被檢面接觸良好,。
2,、試片用后請(qǐng)涂防銹油。
3,、試片有銹蝕,、褶折或磁特性發(fā)生改變時(shí)不得繼續(xù)使用。
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