新標準像質(zhì)計 X射線探傷配件

一,、產(chǎn)品簡介：·像質(zhì)計能測定射線底片的靈敏度,，根據(jù)在底片上顯示的像質(zhì)計的影像，可以判斷底片影像的質(zhì)量,，并可評定透照技術,、膠片暗室處理情況、缺陷檢驗能力等,。·像質(zhì)計通常用與被檢工件材質(zhì)相同或?qū)ι渚€吸收性能相似的材料制作,。·像質(zhì)計中設有一些人為的有厚度差的結構如槽、孔,、金屬絲等,，其尺寸與被檢工件厚度有一定關系。·射線底片上的線型像質(zhì)計影像可以作為一種性的證據(jù)，表明射線透照檢測是在適當條件下進行的,，但線型像質(zhì)計的指示數(shù)值并不等于被檢工件中可以發(fā)現(xiàn)的自然缺陷的實際尺寸,。二,、技術參數(shù)·符合NB/T 47013-2015國家標準·規(guī)格：等徑6～16號