您好, 歡迎來到化工儀器網(wǎng),! 登錄| 免費(fèi)注冊(cè)| 產(chǎn)品展廳| 收藏商鋪|
當(dāng)前位置:> 供求商機(jī)> 泰勒霍普森便攜式粗糙度儀SURTRONIC DUO
泰勒霍普森便攜式粗糙度儀SURTRONIC DUO
泰勒霍普森便攜式SURTRONIC DUO 粗糙度儀儀器特點(diǎn):
快速測(cè)量在儀器底端接觸工件瞬間,,即可讀出測(cè)量值,。全部操作步驟僅需簡單教授即可
攜帶方便DUO可應(yīng)用于車間、實(shí)驗(yàn)室的測(cè)量,。也可方便置于衣服口袋中或掛在腰間,。
經(jīng)外接口操作者可在距離被測(cè)工件1m處操作測(cè)量。
校準(zhǔn)方便DUO具有自身校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn),,可預(yù)設(shè)標(biāo)準(zhǔn)值,,通過LCD顯示出來。
測(cè)針保護(hù)不用時(shí),,設(shè)“park"位置可全面保護(hù)測(cè)針,。
人體工程學(xué)設(shè)計(jì)
SURTRONIC DUO 粗糙度儀技術(shù)指標(biāo):
Ra(算術(shù)平均偏差,以前稱為CLA或AA)
Rz(平均峰谷高度)
Rv(采樣長度內(nèi)輪廓線以下的大高度)
Rp(采樣長度內(nèi)輪廓線以上的大高度)
Rt(剖面大峰谷高度)
Rz1max(任何采樣長度內(nèi)的大峰到谷)
偏度-關(guān)于平均線的輪廓對(duì)稱度的測(cè)量
Rq(輪廓線與平均線的偏差值的均方根均方根(rms))
Rku(峰度-表面輪廓銳度的測(cè)量)
請(qǐng)輸入賬號(hào)
請(qǐng)輸入密碼
請(qǐng)輸驗(yàn)證碼
以上信息由企業(yè)自行提供,,信息內(nèi)容的真實(shí)性,、準(zhǔn)確性和合法性由相關(guān)企業(yè)負(fù)責(zé),化工儀器網(wǎng)對(duì)此不承擔(dān)任何保證責(zé)任,。
溫馨提示:為規(guī)避購買風(fēng)險(xiǎn),,建議您在購買產(chǎn)品前務(wù)必確認(rèn)供應(yīng)商資質(zhì)及產(chǎn)品質(zhì)量。