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菲希爾代理|Fischer X射線測厚儀
菲希爾X射線測厚儀它特別適用于鍍層厚度的無損測量及材料分析,。適用于客戶進(jìn)行質(zhì)量控制,、進(jìn)料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控。
無錫駿展儀器供應(yīng)菲希爾X射線測厚儀典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：
•測量大型工件的鍍層,，如：機(jī)械零件和外殼
•在電鍍過程中進(jìn)行移動實時測量
•對合金材料進(jìn)行移動實時檢測
正如所有的Fischescope x-ray菲希爾熒光光譜鍍層分析儀器一樣,，F(xiàn)ischescope x-ray XAN 500儀器有著出色的精-確性以及長期的穩(wěn)定性，這樣就顯著減少了校準(zhǔn)儀器所需的時間和精力,。硅漂移探測器能夠達(dá)到非常高的分析精度及探測靈敏度,。依靠菲希爾Fischer的基本參數(shù)法，可以在沒有校驗標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下分析固,、液態(tài)樣品的成分及測量樣品的鍍層厚度,。
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