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菲希爾XAN215 FISCHER
FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215無錫駿展儀器供應菲希爾X射線測厚儀是一款入門級能量色散型X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀,，通常用于對珠寶,、錢幣和貴金屬等進行無損分析。它適合分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度,，從元素氯（17）到鈾（92）,，可同時測定24種元素。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 儀器一樣,，減少了校準儀器所需的時間和精力,。Si-PIN的基本參數(shù)法，可以在沒有校驗標準片校正的情況下分析固,、液態(tài)樣品的成分及測量樣品的鍍層厚度,。
| 通用規(guī)格 | |
| 設計用途 | 采用能量色散型X射線熒光光譜法（EDXRF）， 用以分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度 |
| 元素范圍 | 從元素氯（17）到鈾（92）,，可同時測定24種元素,。 |
| 重復性 | 測量金元素時≤1‰，測量時間60秒 |
| 形式設計 | 臺式儀器,，測量門向上開啟 |
| 測量方向 | 由下往上 |
| X射線源 | |
| X射線管 | 帶鈹窗口的鎢靶射線管 |
| 高壓 | 三檔：30KV,，40KV，50KV |
| 孔徑（準直器） | φ1mm,；可選φ2mm |
| 測量點尺寸 | 當測量距離MD=0mm時,，測量點直徑=孔徑直徑+200μm |
| X射線探測 | |
| X射線探測器 | 采用珀耳帖了法冷卻的Si-PIN接收器 |
能量分辨率 （Mn元素Kα半高寬） | ≤180eV |
| 測量距離 | 0...10mm |
| 通過DCM測量距離補償法,，可在不同測量距離上不需要重新校準就能進行測量；對于特殊的應用或者對測量精度要求較高的測量,，可能需要進行額外的校準,。 | |
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