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菲希爾X射線測厚儀、XAN215
FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215是一款入門級能量色散型X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀,,通常用于對珠寶,、錢幣和貴金屬等進行無損分析。它適合分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度,,從元素氯(17)到鈾(92),,可同時測定24種元素。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 儀器一樣,,菲希爾X射線測厚儀,Fischer代理減少了校準儀器所需的時間和精力,。Si-PIN的基本參數(shù)法,可以在沒有校驗標準片校正的情況下分析固,、液態(tài)樣品的成分及測量樣品的鍍層厚度,。
通用規(guī)格 | |
設(shè)計用途 | 采用能量色散型X射線熒光光譜法(EDXRF), 用以分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度 |
元素范圍 | 從元素氯(17)到鈾(92),,可同時測定24種元素,。 |
重復(fù)性 | 測量金元素時≤1‰,測量時間60秒 |
形式設(shè)計 | 臺式儀器,,測量門向上開啟 |
測量方向 | 由下往上 |
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