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泰勒霍普森粗糙度儀Surtronic S116,,泰勒霍普森粗糙度儀,,儀器支持U盤zui大4G,zui多可存儲39,000個(gè)圖形,,每批可存儲10萬個(gè)測試結(jié)果,,共7...
Surtronic S128粗糙度儀,泰勒霍普森粗糙度儀,,耐用的粗糙度測量儀,,適用于車間、工業(yè)和檢測室的應(yīng)用
美國激光跟蹤儀,,API激光跟蹤儀,,Radian Pro型號激光跟蹤儀具備IFM(干涉激光,是長度計(jì)量的標(biāo)準(zhǔn))和ADM(絕對激光,,快速輸出,、斷光續(xù)接)雙激光輸出,,...
美國激光干涉儀,API激光干涉儀,,與傳統(tǒng)干涉儀相比,,XD激光干涉儀可以更加快速、準(zhǔn)確地測量機(jī)床的定位和軸向數(shù)據(jù),,迅速完成整機(jī)的性能評估,,停機(jī)時(shí)間可減少80%。
xd-6d三維型API激光干涉儀,,激光具有高強(qiáng)度,、高度方向性、空間同調(diào)性,、窄帶寬和高度單色性等優(yōu)點(diǎn),。
美國API激光跟蹤儀,API激光跟蹤儀,,Radian Plus型號激光跟蹤儀在Radian Core型號的基礎(chǔ)上,,實(shí)現(xiàn)了跟蹤儀與手持隱藏點(diǎn)測頭、掃描測頭,、6維(...
API激光干涉儀,,API XD Laser,一次安裝可測得六個(gè)參數(shù)(包括x,、y,、z、俯仰角,、偏擺角,、滾動(dòng)角),可實(shí)現(xiàn)對多軸加工中心的精準(zhǔn)測量與評估,。
API RADIAN,,杰出設(shè)計(jì)造就優(yōu)質(zhì)表現(xiàn),迅速預(yù)熱,,快速高效,,AOC激光跟蹤儀冷卻系統(tǒng),實(shí)現(xiàn)熱能管控,,保障測量穩(wěn)定性
API手持式激光跟蹤儀功能拓展測頭,,vProbe手持式隱藏點(diǎn)智能測頭、iScan手持式掃描智能測頭,,可與Radian Plus和Radian Pro激光跟蹤儀適...
API激光跟蹤儀,,80米測量半徑,無線連接方式,,緊湊式設(shè)計(jì)集成式控制箱,,8小時(shí)電池工作續(xù)航,,9千克主機(jī)重量
API激光干涉儀,可一次測量六個(gè)參數(shù)的激光干涉儀80 米,線性測量范圍0.5 PPM,測量精度,6自由度,高效測量,4.2 KG,整機(jī)重量
XD LASER激光干涉儀,API激光干涉儀,,精度高,,測量方便??梢噪S時(shí)約看,,現(xiàn)場演示。
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