菲希爾X射線測(cè)厚儀Fischer代理信息

Fischerscope X-RAY菲希爾X射線測(cè)厚儀特性：

• X 射線熒光儀器可配備多種硬件組合,，可完成各種測(cè)量任務(wù)

• 由于測(cè)量距離可以調(diào)節(jié)（最大可達(dá) 80 mm）,，適用于測(cè)試已布元器件的電路板或腔體結(jié)構(gòu)的部件

• 通過可編程 XY 工作臺(tái)與 Z 軸（可選）實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化的批量測(cè)試

• 使用具有高能量分辨率的硅漂移探測(cè)器,，非常適用于測(cè)量超薄鍍層（XDAL 設(shè)備）

Fischerscope X-RAY菲希爾X射線測(cè)厚儀應(yīng)用：

鍍層厚度測(cè)量

• 大型電路板與柔性電路板上的鍍層測(cè)量

• 電路板上較薄的導(dǎo)電層和/或隔離層

• 復(fù)雜幾何形狀產(chǎn)品上的鍍層

• 鉻鍍層,，如經(jīng)過裝飾性鍍鉻處理的塑料制品

• 氮化鉻 (CrN),、氮化鈦 (TiN) 或氮碳化鈦 (TiCN) 等硬質(zhì)涂層厚度測(cè)量

Fischerscope X-RAY菲希爾X射線測(cè)厚儀材料分析

• 電鍍槽液分析

• 電子和半導(dǎo)體行業(yè)中的功能性鍍層分析