泰勒霍普森粗糙度儀Surtronic DUO技術(shù)參數(shù)

時(shí)間：2022/5/15閱讀：834

SURTRONIC DUO 粗糙度儀技術(shù)指標(biāo)：

量程：200um

行程：5mm

取樣長(zhǎng)度：0.8mm +/-15%

參數(shù)：Ra：0.01um-40um

Rz：0.1um-199um Rp,、Rt、Rv

顯示Ra:0.01um

精度：Rz:0.1um

檢測(cè)方式：壓電式

尺寸：125*80*38mm

重量：200g

訂貨號(hào)：112-3115

SURTRONIC DUO粗糙度儀 Ra Rz Rv Rp Rt

112-3115-10EX（防爆型） Ra Rz Rv Rp Rt

訂貨號(hào)：112-2916-03 Ra Rz

粗糙度儀

泰勒霍普森粗糙度儀



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