東莞HAST老化試驗箱產(chǎn)品簡介：

HAST/HALT試驗箱適用于IC封裝,，半導(dǎo)體,，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進(jìn)行高壓,、高溫,、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗,，使用于在產(chǎn)品的設(shè)計階段,，用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測試其制品的密封性和老化性能,。

HAST CHAMBER 又稱為超加速壽命試驗機,是用于調(diào)查分析何時出現(xiàn)電子元器件和機械零件的摩耗和使用壽命的問題的試驗設(shè)備,，其目的是提高環(huán)境應(yīng)力與工作應(yīng)力、加快試驗過程縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間,。廣泛用于 PCB,、LCD Board、電池,、電容,、電阻、IC 半導(dǎo)體,、連接器,、線路板、磁性材料,、高分子材料,、EVA、光伏組件及其它電子零件之高溫,、高濕,、高壓等信賴性試驗等行業(yè)。

高壓加速老化試驗箱采用最新優(yōu)化設(shè)計,，美觀大方,、做工精細(xì),，對應(yīng) IEC60068-2-66 條件，具有直接測量箱內(nèi)溫濕度的干,、濕球溫度傳感器,；具有緩降壓、排氣,、排水功能,，控制避免試驗結(jié)束后壓力溫度的急變，保證試驗結(jié)果的正確,。

東莞HAST老化試驗箱試驗標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T2423.40-2013電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法Cx：不飽和高壓蒸汽的恒定濕熱

IEC60068-2-66-1994環(huán)境試驗.第2-66部分：試驗方法.試驗Cx：穩(wěn)態(tài)濕熱

JESD22-A100循環(huán)的溫度和濕度偏移壽命

JESD22-A101穩(wěn)態(tài)溫度,，濕度/偏壓，壽命試驗（溫濕度偏壓壽命）

JESD22-A102高壓蒸煮試驗（加速抗?jié)裥詽B透）

JESD22-A108溫度,、偏置電壓和工作壽命

JESD22-A110 HAST高加速溫濕度應(yīng)力試驗

JESD22-A118溫濕度無偏壓高加速應(yīng)力實驗UHAST（無偏置電壓未飽和高壓蒸汽）