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菲希爾x熒光射線測厚儀XUL 220
菲希爾x熒光射線測厚儀XUL 220
XULM 240介紹：
XULM適合測量小的結構,。它配備了微聚焦管，測量點可達約100μｍ,，同時比例接收器仍然可以保持相對高的計數(shù)率,。即使很短的測量時間也可以達到很好的重復精度。此外,，XULM配備了可自動切換的準直器和多種濾片可以靈活地為不同的測量應用創(chuàng)造激勵條件,。
菲希爾x射線測厚儀應用實例:
XULM特別適合測量細小的部件如連接器，觸點或線,，也可以測量印刷線路板上的Au,，Ni和Cu鍍層厚度。即使80nm的很薄的金鍍層也可以用測量點為?0.25mm的準直器測量,，20秒的重復精度可達2.5nm,。
菲希爾X射線熒光鍍層測厚儀X-RAY XULM系列設計理念
FISCHERSCOPE X-RAY XULM設計為界面友好、結構緊湊的臺式測量儀器系列,。根據(jù)使用用途,，有以下兩種不同版本型號，分別對應不同樣品平臺：
XULM：固定平面平臺
XULM XYm：手動X/Y平臺
高分辨的彩色攝像頭配以強大的放大功能,，可以定位測量位置,。
盡管儀器本身結構緊湊，但是由于XULM光譜儀配備了寬敞的測量室，從而可以測量更大體積的樣品,。
外罩底部留下了空隙,，可方便地測量超出測量室大小的大尺寸扁平樣品，如大面積的印制線路板等,。
通過強大且界面友好的WinFTM軟件,，可以在電腦上便捷地完成整個測量過程，包括測量結果的數(shù)據(jù)分析和所有相關信息的顯示等,。
XULM型光譜儀是型式許可符合德國"Deutsche R?ntgenverordnung-R?V“法令要求的,，有完善防護措施的測量儀器。
PHASCOPE PMP10主要用于在電鍍和PCB行業(yè)中對各種基材上的金屬鍍層的厚度進行質(zhì)量控制,。無論樣品表面是否平滑,，PMP10都可以準確測量鐵基材上的鍍鎳層、鍍銅層和鍍鋅層的厚度,；它還能對印制電路板上的銅層厚度,，甚至是孔內(nèi)銅層的厚度進行測量。PMP10 Duplex 型儀器是專為汽車行業(yè)測量雙鍍層而開發(fā)的（例如：油漆/Zn/Fe）：通過一次測量就能同時獲得和顯示兩層涂鍍層各自的厚度,。它還可以測量鋁材上油漆層的厚度,。
